Lucent Technologies Release 7 User Manual

Issue 4

June 1999

Maintenance Object Repair Procedures 

9-1739

TIE-DS1 (DS1 Tie Trunk) 

0

1

1.

Run the Short Test Sequence first. If all tests pass, run the Long Test Sequence. Refer to the appropriate
test description and follow the recommended procedures.

0

Any

Any

Any

test trunk 

grp/mbr

1(a)

57476
57477
57485
57487

15(b)

Any

Port Audit and Update 
Test (#36)

18(c)

0

busyout trunk 

grp/mbr

WARNING

OFF

release trunk 

grp/mbr

2

2.

For TN767B vintage 8 or 9 circuit packs, a failure of Test #136 causes a subsequent failure of Test #7.
Test #136 is part of the short sequence and generates off-board alarms. Test #7 is part of the long
sequence and generates on-board alarms. Before entering busyout, release, reset or test board long
commands, check the vintage number of the circuit pack with list configuration board UUCSS. If it is
TN767B vintage 8 or 9, do not use the above commands until first making sure that Test #136 passes
via test board short. Otherwise, extraneous on-board alarms may be generated.

130(d)

None

WARNING

ON

test trunk 

grp/mbr

257(e)

57473
57474

513(f)

57392

DS1 Tie Trunk Seizure 
Test (#136)

MIN/MAJ

3

769(g)

57393

DS1 Tie Trunk Seizure 
Test (#136)

MIN/MAJ

3

1025

DS1 Tie Trunk Seizure 
(Test #136)

MIN/ WRN

4

OFF

test trunk 

grp/mbr r 2

1281

Conference Circuit 
(Test #7)

MIN/ WRN

4

ON

test trunk 

grp/mbr l r 4 

2

1537

NPE Crosstalk Test 
(#6)

MIN/ WRN

4

ON

test trunk 

grp/mbr l r 3 

2

1793(h)

test board UUCSS long 

2

2305(i)

50944

DS1 Tie Trunk Seizure 
Test (#136)

MIN/MAJ

3

OFF

2562(j)

16665

2817(k)

52992

3840(l)

Any

Port Audit and Update 
(Test #36)