Intel III Xeon 800 MHz 80526KZ800256 User Manual

Product codes
80526KZ800256
Page of 105
 
INTEGRATION TOOLS 
 
 
78 
Name Pin 
Description 
Specification 
Requirement 
Notes 
RESET# 
Reset signal from MP 
cluster to ITP. 
Terminate
2
 signal properly at 
the debug port. 
Debug port must be at the end 
of the signal trace. 
Connected to high-speed 
comparator (biased at 2/3 of the 
level found at the POWERON pin) 
on the ITP buffer board. Additional 
load does not change timing 
calculations for the processor bus 
agents if routed properly. 
DBRESET# 
Allows ITP to reset entire 
target system. 
Tie signal to target system 
reset (recommendation):  
PWR_OK signal on PCIset as 
an ORed input). 
Pulled-up signal with the proper 
resistor (see Signal Notes 
section, following). 
Open drain output from ITP to the 
target system. It will be held 
asserted for 100 ms; capacitance 
needs to be small enough to 
recognize assert. The pull-up 
resistor should be picked to (1) 
meet VIL of target system and (2) 
meet specified rise time. 
TCK 
The TAP (Test Access 
Port) clock from ITP to MP 
cluster. 
Add 1.0K
Ω pull-up resistor to 
Vcc_
TAP
 near driver. 
For MP systems, each 
processor should receive a 
separately buffered TCK. 
Add a series termination 
resistor or a Bessel filter on 
each output. 
Poor routing can cause multiple 
clocking problems. Should be 
routed to all components in the 
boundary scan chain
3
.   
Simulations should be run to 
determine the proper value for 
series termination or Bessel filter, 
see figure 31. 
TMS 
Test mode select signal 
from ITP to MP cluster, 
controls the TAP finite 
state machine. 
Add 1.0 K
Ω pull-up resistor to 
Vcc_
TAP
 near driver. 
For MP systems, each 
processor should receive a 
separately buffered TMS. 
Add a series termination 
resistor on each output.  
Operates synchronously with TCK. 
Should be routed to all components 
in the boundary scan chain
3
Simulations should be run to 
determine the proper value for 
series termination. 
TDI 
Test data input signal from 
ITP to first component in 
boundary scan chain of 
MP cluster; inputs test 
instructions and data 
serially. 
This signal is open-drain from 
the ITP. However, TDI is pulled 
up to Vcc_
TAP
 with ~150
Ω on 
the processor. Add a 150 to 
330
Ω pull-up resistor (to 
Vcc_
TAP
) if TDI will not be 
connected directly to a 
processor. 
Operates synchronously with TCK. 
POWERON 
Used by ITP to determine 
when target system power 
is ON and, once target 
system is ON, enables all 
debug port electrical 
interface activity. From 
target V
TT
 to ITP. 
Add 1.5K
Ω pull-up resistor (to 
V
TT
). 
If no power is applied, the ITP will 
not drive any signals; isolation 
provided using isolation gates. 
Voltage applied is internally used to 
set AGTL+ threshold (or reference) 
at 2/3 V
TT
TDO 
10 
Test data output signal 
from last component in 
boundary scan chain of 
MP cluster to ITP; test 
output is read serially. 
Add 150
Ω pull-up resistor (to 
Vcc_
TAP
). 
Design pull-ups to route around 
empty processor sockets (so 
resistors are not in parallel). 
Operates synchronously with TCK. 
Each processor has a 25
Ω driver. 
DBINST# 
11 
Indicates to target system 
that the ITP is installed. 
Add ~10K
Ω pull-up resistor. 
Not required if boundary scan is not 
used in target system. 
TRST# 
12 
Test reset signal from ITP 
to MP cluster, used to 
reset TAP logic. 
Add ~680
Ω pull-down. 
To disable TAP reset if ITP not 
installed. 
Asynchronous input signal.