Agilent Technologies 53151A ユーザーズマニュアル

Appendix B  Messages

Operating Guide

B-3

Self-Test Messages

Table 3-2 lists and describes messages that are generated by the Counter 
during Self-Test to indicate whether a component passed or failed its test. 
These messages are sent via the RS-232 serial output only—they do not 
appear on the Counter’s front-panel display.

ROM TEST FAIL
ROM TEST OK

ROM failed read test.
ROM passed read test.

RAM DATA LINES OK
RAM DATA ERROR
RAM ADDR LINES OK
RAM ADDR ERROR
RAM TEST OK

RAM data lines passed test.
RAM data lines failed test.
RAM address lines passed test.
RAM address lines failed test.
RAM tests completed with no errors detected.

EEPROM FAIL - CONFIGURATION 
DATA

The configuration data saved in EEPROM 
memory is defective.

ROM FAIL; Computed checkbyte does 
not match the value stored in 
EEPROM.

The checksum of the ROM data does not match 
the value stored in EEPROM.

EEPROM FAIL - CONFIGURATION 
DATA; Needs to be (re)initialized.

The EEPROM org code does not verify with 
current revision of ROM code.

EEPROM FAIL - POWER CAL DATA; 
Using default data

The checksum of the EEPROM power-
calibration table is bad. Factory default 
calibration data will be used.

EEPROM FAIL - SAVED SETTINGS; 
Using default data

The checksum of the user settings stored in 
EEPROM is bad. Factory default settings will be 
used.

EEPROM FAIL - SAVED SETTINGS; 
Invalid EEPROM SAV n Data.

The checksum of one set of user settings (1 – 9) 
stored in EEPROM is bad.

GPIB FAIL; Conf. Test

The GP-IB hardware failed its confidence test.