Lucent Technologies Release 7 用户手册

Issue 4

June 1999

Maintenance Object Repair Procedures 

9-1036

MEM-BD (32MB Memory Circuit Pack) 

This test verifies that the Memory Burst Read function works properly on both the 
Memory and Processor circuit packs. If the test memory a|b command is used, 
this test executes once for each equipped Memory circuit pack

2334

ABORT

The hardware mailbox on the standby Duplication Interface board is not ready 
to receive messages.

1. Retry the command at 1-minute intervals, a maximum of 5 times.

FAIL

The Memory EDC circuitry is not working correctly. The system may not 
continue to operate correctly if single or multiple bit errors occur in Memory at 
a later time. If the test fails on all equipped Memory circuit packs, the 
Processor may be at fault. Run the tests described in the Processor section of 
this manual.

1. Replace the affected Memory circuit when convenient.

2. If the test continues to fail after replacing the Memory circuit pack, replace 

the Processor circuit pack. To replace the circuit packs, use the procedure 
described in 

Replacing SPE Circuit Packs in Chapter 5.

PASS

The Memory EDC circuitry is working normally.

100

ABORT

The requested test did not complete within the allowable time period.

1. Retry the command.

1022 
1335 
2500

ABORT

Internal system error.

1. Retry the command.

1338

ABORT

The test is not allowed to run since a planned SPE interchange is in progress. 
This may be caused by a planned interchange initiated automatically during 24 
hour scheduled testing.

1. Wait 3 minutes and retry the command.