Intel DC P3600 SSDPE2ME400G410 用户手册

产品代码
SSDPE2ME400G410
下载
页码 43
 
 
Intel
®
 Solid-State Drive DC P3600 Series 
 
Product Specification 
October 2014 
16 
 
 
330569-004US 
2.6  Reliability Specifications 
Intel SSD DC P3600 Series meets or exceeds SSD endurance and data retention requirements as specified in the 
JESD218 standard. Reliability specifications are listed in Table 15. 
Table 15:  Reliability Specifications 
Parameter 
Value 
Uncorrectable Bit Error Rate (UBER) 
 
Uncorrectable bit error rate will not exceed one sector in the specified 
number of bits read. In the unlikely event of a non-recoverable read error, 
the SSD will report it as a read failure to the host; the sector in error is 
considered corrupt and is not returned to the host. 
< 1 sector per 10
17
 bits read 
Mean Time Between Failures (MTBF) 
 
Mean Time Between Failures is estimated based on Telcordia* 
methodology and demonstrated through Reliability Demonstration Test 
(RDT). 
2 million hours 
Data Retention 
 
The time period for retaining data in the NAND at maximum rated 
endurance. 
3 months power-off retention once SSD 
reaches rated write endurance at 40 °C 
Endurance Rating 
 
 
The number of drive writes such that the SSD meets the requirements 
according to the JESD218 standard. Endurance rating verification is 
defined to establish UBER <1E-16 at 60% upper confidence limit. 
400GB: 2.19 PBW 
800GB: 4.38 PBW 
1.2TB: 6.57 PBW 
1.6TB: 8.76 PBW 
2.0TB: 10.95 PBW 
(3 drive writes/day*) 
NOTE:  Petabytes Written (PBW). Refer to JESD218 standard table 1 for UBER, FFR and other  
 
Enterprise SSD requirements. 
2.7  Temperature Sensor 
P3600 Series has an internal temperature sensor with an accuracy of +/-2C over a range of -10C to +85C which can 
be monitored using NVMe* Health Log. 
For more information on sensor reading see SMART attributes section. In addition, drive will provide out of band 
access to temperature by means of SMBUS. The sensor has an accuracy of +/- 3C over a range of -20C to 125C. 
SMBUS temperature sensor will not be reported in NVMe* Health Log. 
2.8  Power Loss Capacitor Test 
P3600 Series supports testing of the power loss capacitor, which can be monitored using SMART attribute critical 
warning in log page identifier 02h, byte 0, bit 4.