Texas Instruments LM3429 Evaluation Boards LM3429BKBSTEVAL/NOPB LM3429BKBSTEVAL/NOPB Datenbogen

Produktcode
LM3429BKBSTEVAL/NOPB
Seite von 51
SNVS616G – APRIL 2009 – REVISED MAY 2013
These devices have limited built-in ESD protection. The leads should be shorted together or the device placed in conductive foam
during storage or handling to prevent electrostatic damage to the MOS gates.
Absolute Maximum Ratings
(1) (2)
V
IN
, nDIM
-0.3V to 76.0V
-1 mA continuous
OVP, HSP, HSN
-0.3V to 76.0V
-100 µA continuous
RCT
-0.3V to 3.0V
-1 mA to +5 mA continuous
IS
-0.3V to 76.0V
-2V for 100 ns
-1 mA continuous
V
CC
-0.3V to 8.0V
COMP, CSH
-0.3V to 6.0V
-200 µA to +200 µA Continuous
GATE
-0.3V to V
CC
-2.5V for 100 ns
V
CC
+2.5V for 100 ns
-1 mA to +1 mA continuous
PGND
-0.3V to 0.3V
-2.5V to 2.5V for 100 ns
Maximum Junction Temperature
Internally Limited
Storage Temperature Range
65°C to +150°C
Maximum Lead Temperature (Reflow and Solder)
(3)
260°C
Continuous Power Dissipation
Internally Limited
ESD Susceptibility
(4)
, Human Body Model
2 kV
(1)
Absolute Maximum Ratings indicate limits beyond which damage to the device may occur, including inoperability and degradation of
device reliability and/or performance. Functional operation of the device and/or non-degradation at the Absolute Maximum Ratings or
other conditions beyond those indicated in the Operating Ratings is not implied. The recommended Operating Ratings indicate
conditions at which the device is functional and the device should not be operated beyond such conditions. All voltages are with respect
to the potential at the AGND pin, unless otherwise specified.
(2)
If Military/Aerospace specified devices are required, please contact the Texas Instruments Sales Office/Distributors for availability and
specifications.
(3)
Refer to
for more detailed information and mounting techniques.
(4)
Human Body Model, applicable std. JESD22-A114-C.
Operating Conditions
(1)
Operating Junction Temperature Range
40°C to +125°C
Input Voltage V
IN
4.5V to 75V
(1)
Absolute Maximum Ratings indicate limits beyond which damage to the device may occur, including inoperability and degradation of
device reliability and/or performance. Functional operation of the device and/or non-degradation at the Absolute Maximum Ratings or
other conditions beyond those indicated in the Operating Ratings is not implied. The recommended Operating Ratings indicate
conditions at which the device is functional and the device should not be operated beyond such conditions. All voltages are with respect
to the potential at the AGND pin, unless otherwise specified.
Copyright © 2009–2013, Texas Instruments Incorporated
3
Product Folder Links: