Texas Instruments PCM2707 Evaluation Module PCM2707EVM-U PCM2707EVM-U Datenbogen

SBFS036A – AUGUST 2011 – REVISED JULY 2012

This integrated circuit can be damaged by ESD. Texas Instruments recommends that all integrated circuits be handled with
appropriate precautions. Failure to observe proper handling and installation procedures can cause damage.

ESD damage can range from subtle performance degradation to complete device failure. Precision integrated circuits may be more
susceptible to damage because very small parametric changes could cause the device not to meet its published specifications.

For the most current specification and package information, refer to the Package Option Addendum located at
the end of this data sheet or see the respective device product folders at

Over operating free-air temperature range unless otherwise noted.

V

BUS

–0.3 to 6.5

V

Supply voltage

V

CCP

, V

CCL

, V

CCR

, V

DD

–0.3 to 4

V

Supply voltage differences

V

CCP

, V

CCL

, V

CCR

, V

DD

±0.1

V

Ground voltage differences

PGND, AGNDL, AGNDR, DGND, ZGND

±0.1

V

HOST

–0.3 to 6.5

V

D+, D–, HID0/MS, HID1/MC, HID2/MD, XTI, XTO, DOUT,

Digital input voltage

SSPND, CK, DT, PSEL, FSEL, TEST, TEST0, TEST1,

–0.3 to (V

DD

+ 0.3) < 4

V

FUNC0, FUNC1, FUNC2, FUNC3

V

COM

–0.3 to (V

CCP

+ 0.3) < 4

V

Analog input voltage

V

OUT

R

–0.3 to (V

CCR

+ 0.3) < 4

V

V

OUT

L

–0.3 to (V

CCL

+ 0.3) < 4

V

Input current (any pins except supplies)

±10

mA

Ambient temperature under bias

–40 to +125

°C

Storage temperature

–55 to +150

°C

Junction temperature

+150

°C

Package temperature (IR reflow, peak)

+260

°C

(1)

Stresses beyond those listed under Absolute Maximum Ratings may cause permanent damage to the device. These are stress ratings
only, and functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under Recommended Operating
Conditions is not implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.

Over operating free-air temperature range.

V

BUS

4.35

5

5.25

Supply voltage

V

V

CCP

, V

CCL

, V

CCR

, V

DD

3

3.3

3.6

Digital input logic level

TTL-compatible

Digital input clock frequency

11.994

12

12.006

MHz

Analog output load resistance

16

32

Ω

Analog output load capacitance

100

pF

Digital output load capacitance

20

pF

Operating free-air temperature, T

A

–25

85

°C

2

Copyright © 2011–2012, Texas Instruments Incorporated

Product Folder Link(s):