Texas Instruments LM4570 Evaluation Board LM4570LQBD/NOPB LM4570LQBD/NOPB Datenbogen

SNOSAV2C – APRIL 2006 – REVISED APRIL 2013

(1) (2)

The following specifications apply for V

DD

= 5V, A

V-BTL

= 6dB unless otherwise specified. Limits apply for T

A

= 25°C.

V

IN

= 0V, I

L

= 0A, No Load

2.5

5.5

mA (max)

I

DD

Quiescent Power Supply Current

V

IN

= 0V, I

L

= 0A, R

L

= 30

Ω

2.6

5.5

mA (max)

I

SD

Shutdown Current

V

SD

= GND

0.1

1.5

µA (max)

V

IH

Logic Input High

1.4

V (min)

V

IL

Logic Input Low

0.4

V (max)

V

OS

Output Offset Voltage

5

±35

mV (max)

I

OUT

Output Current

V

OH

, V

OL

≤

250mV

268

mA

T

WU

Wake-up time

2.5

ms (max)

R

L

= 30

Ω

specified as

V

OH

Output High Voltage

146

200

mV (max)

|V

DD

- V

OH

|

R

L

= 30

Ω

specified as

V

OL

Output Low Voltage

106

200

mV (max)

|GND + V

OH

|

(1)

All voltages are measured with respect to the ground pin, unless otherwise specified.

(2)

Absolute Maximum Ratings indicate limits beyond which damage to the device may occur. Operating Ratings indicate conditions for
which the device is functional, but do not specify specific performance limits. Electrical Characteristics state DC and AC electrical
specifications under particular test conditions which specify specific performance limits. This assumes that the device is within the
Operating Ratings. Specifications are not specified for parameters where no limit is given; however, the typical value is a good indication
of device performance.

(3)

Typicals are measured at 25°C and represent the parametric norm.

(4)

Limits are ensured to AOQL (Average Outgoing Quality Level).

(5)

Datasheet min/max specification limits are ensured by design, test, or statistical analysis.

(1) (2)

The following specifications apply for V

DD

= 3V, A

V-BTL

= 6dB unless otherwise specified. Limits apply for T

A

= 25°C.

V

IN

= 0V, I

L

= 0A, No Load

1.9

4

I

DD

Quiescent Power Supply Current

mA (max)

V

IN

= 0V, I

L

= 0A, R

L

= 30

Ω

1.95

4

I

SD

Shutdown Current

(6)

V

SD

= GND

0.1

1.0

µA (max)

V

IH

Logic Input High

1.4

V (min)

V

IL

Logic Input Low

0.4

V (max)

V

OS

Output Offset Voltage

5

±35

mV (max)

I

OUT

Output Current

V

OH

, V

OL

≤

200mV

192

mA

T

WU

Wake-up time

2.4

ms (max)

R

L

= 30

Ω

specified as

V

OH

Output High Voltage

90

110

mV (max)

|V

DD

- V

OH

|

R

L

= 30

Ω

specified as

V

OL

Output Low Voltage

63

110

mV (max)

|V

DD

- V

OH

|

(1)

All voltages are measured with respect to the ground pin, unless otherwise specified.

(2)

Absolute Maximum Ratings indicate limits beyond which damage to the device may occur. Operating Ratings indicate conditions for
which the device is functional, but do not specify specific performance limits. Electrical Characteristics state DC and AC electrical
specifications under particular test conditions which specify specific performance limits. This assumes that the device is within the
Operating Ratings. Specifications are not specified for parameters where no limit is given; however, the typical value is a good indication
of device performance.

(3)

Typicals are measured at 25°C and represent the parametric norm.

(4)

Limits are ensured to AOQL (Average Outgoing Quality Level).

(5)

Datasheet min/max specification limits are ensured by design, test, or statistical analysis.

(6)

Shutdown current is measured in a normal room environment. Exposure to direct sunlight will increase I

SD

by a maximum of 2

μ

A.

Copyright © 2006–2013, Texas Instruments Incorporated

3

Product Folder Links: