Texas Instruments IC MCU 16B MSP430F2232TDA TSSOP-38 TID MSP430F2232TDA Datenbogen

SLAS504G – JULY 2006 – REVISED AUGUST 2012

General-purpose digital I/O pin

Timer_B, capture: CCI0B input, compare: OUT0 output

P4.3/TB0/A12/OA0O

E7

20

18

I/O

ADC10 analog input A12

OA0 analog output

General-purpose digital I/O pin

Timer_B, capture: CCI1B input, compare: OUT1 output

P4.4/TB1/A13/OA1O

F7

21

19

I/O

ADC10 analog input A13

OA1 analog output

General-purpose digital I/O pin

Timer_B, compare: OUT2 output

P4.5/TB2/A14/OA0I3

F6

22

20

I/O

ADC10 analog input A14

OA0 analog input I3

General-purpose digital I/O pin

Timer_B, switch all TB0 to TB3 outputs to high impedance

P4.6/TBOUTH/A15/OA1I3

G7

23

21

I/O

ADC10 analog input A15

OA1 analog input I3

General-purpose digital I/O pin

P4.7/TBCLK

F5

24

22

I/O

Timer_B, clock signal TBCLK input

Reset or nonmaskable interrupt input

RST/NMI/SBWTDIO

B3

7

5

I

Spy-Bi-Wire test data input/output during programming and test

Selects test mode for JTAG pins on Port 1. The device protection fuse is
connected to TEST.

TEST/SBWTCK

D1

1

37

I

Spy-Bi-Wire test clock input during programming and test

C1,
D3,

DV

CC

2

38, 39

Digital supply voltage

D4,

E4, E5

C6,

AV

CC

C7,

16

14

Analog supply voltage

D5

A3,
B1,

DV

SS

B2,

4

1, 4

Digital ground reference

C3,

C4

B7,

AV

SS

15

13

Analog ground reference

C5

QFN Pad

NA

NA

Pad

NA

QFN package pad; connection to DV

SS

recommended.

Copyright © 2006–2012, Texas Instruments Incorporated

13