Intel 8XC196MD Benutzerhandbuch

Seite von 579
12-11
ANALOG-TO-DIGITAL (A/D) CONVERTER
Typically, the (R
F
 / A
V
 + 1) term is the major contributor to the total resistance and the factor that
determines the minimum sample time specified in the datasheet.
12.6.1.1
Minimizing the Effect of High Input Source Resistance
Under some conditions, the input source resistance (R
SOURCE
) can be great enough to affect the
measurement. You can minimize this effect by increasing the sample time or by connecting an
external capacitor (C
EXT
) from the input pin to ANGND. The external signal will charge C
EXT
 to
the source voltage level. When the channel is sampled, C
EXT
 acts as a low-impedance source to
charge the sample capacitor (C
S
). A small portion of the charge in  C
EXT
 is transferred to C
S
, re-
sulting in a drop of the sampled voltage. The voltage drop is calculated using the following for-
mula.
If C
EXT
 
is 0.005 µF or greater, the error will be less than –0.4 LSB in 10-bit conversion mode. The
use of C
EXT
 in conjunction with R
SOURCE
 forms a low-pass filter that reduces noise input to the
A/D converter. 
High R
SOURCE
 resistance can also cause errors due to the input leakage (I
LI1
). 
I
LI1
 
is typically much
lower than its specified maximum (consult the datasheet for specifications). The combined effect
of I
LI1
 leakage and high R
SOURCE
 resistance is calculated using the following formula.
where:
R
SOURCE
 
is the input source resistance, in ohms
I
LI1
 
is the input leakage, in amperes
V
REF
is the reference voltage, in volts
External circuits with R
SOURCE
 resistance of 1 kilo-ohm
 
or lower and V
REF
 equal to 5.0 volts will
have a resultant error due to source impedance of 0.6 LSB or less.
Sampled Voltage Drop, %
C
S
C
E XT
C
S
+
---------------------------
100%
×
=
error (LSBs)
R
S OURCE
I
LI1
×
1024
×
V
RE F
------------------------------------------------------------
=