Lucent Technologies R5SI User Manual

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-869

MEM-BD (Memory) 

Notes:

a. The "clear" option can replace the "repeat" option in a 

 

command. For a High or Critical Reliability system, the carrier (a or b) 
must be specified. In all other systems, there is no need to specify the 
carrier.

b. The Read All Memory Test (#85) failed. Refer to the FAIL section of this 

test. The error is associated with MEM-BD 1.

c. The Memory Error Detection Test (#87) failed. Refer to the FAIL section of 

this test. The error is associated with MEM-BD 1. 

d. The Text Checksum Test (#86) failed. Refer to the FAIL section of this test. 

The error is associated with MEM-BD 1 and is an ON board alarm.

e. There are Functional Test errors against both the Processor circuit pack 

and Memory. This test is run only on the Standby SPE in a High or Critical 
Reliability system. On other systems or on the Active SPE, the test is run 
only via a 

 command or a 

 command.

1.

Run the Short Test Sequence first. If all tests pass, run the Long Test Sequence. Refer to the 
appropriate test description and follow the recommended procedures.

0

1

0

Any

Any

Any

test memory a/b l r 1

1-256

Any

Read All Memory Test 
(#85)

MAJOR

ON

test memory a/b l r 5

257-512 (b)

Any

Read All Memory Test 
(#85)

MAJOR

ON

test memory a/b l r 1

513 (c)

0

Memory Detection/ 
Test (#87)

MAJOR

ON

test memory a/b r 3

769 (d)

Any

Text Checksum Test 
(#86)

MAJOR

OFF/ON

test memory a/b l r 2

1025 (e)

Any

Memory Functional 
Test (#332)

MAJOR

ON

test memory a/b l r 1