Fujitsu FR81S User Manual

Page of 2342
CHAPTER 41: CAN 
 
 
4. Registers 
 
FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED 
CHAPTER
 : CAN 
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL 
25 
4.2.6.   CAN Test Register : TESTR 
The bit configuration of the CAN test register is shown. 
Monitors the test mode setting and RX pins. For operation, see "5.7 Test Mode". 
 CAN Test Register (upper byte): Address Base + 0A
H
 (Access: Byte, Half-word, 
Word) 
 
bit15 
bit14 
bit13 
bit12 
bit11 
bit10 
bit9 
bit8 
 
 
Reserved  Reserved  Reserved  Reserved  Reserved  Reserved  Reserved  Reserved 
Initial value 
Attribute  R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
R0,W0 
 
 CAN Test Register (lower byte): Address Base + 0B
H
 (Access: Byte, Half-word, 
Word) 
 
bit7 
bit6 
bit5 
bit4 
bit3 
bit2 
bit1 
bit0 
 
 
Rx 
Tx1 
Tx0 
LBack 
Silent 
Basic 
Reserved  Reserved 
Initial value 
Attribute  R,WX 
R/W 
R/W 
R/W 
R/W 
R/W 
R0,W0 
R0,W0 
 
* The level on the CAN bus is displayed as the initial value (r) of Rx. 
[bit15 to bit8] : Reserved bit 
The read value is always "0". When writing to these bits, set "0". 
[bit7] Rx : Rx pin monitor bit 
Rx 
Function 
Indicates the CAN bus is dominant. 
Indicates the CAN bus is recessive. 
 
[bit6, bit5] Tx1, Tx0 : TX pin control bits 
Tx1, Tx0 
Function 
00 
Normal operation [Initial value] 
01 
Sampling points will be output to the TX pin. 
10 
Dominant will be output to the TX pin. 
11 
Recessive will be output to the TX pin. 
 
MB91520 Series
MN705-00010-1v0-E
1718