Fujitsu FR81S User Manual

Page of 2342
CHAPTER 50: RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
 
 
4. Registers 
 
FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED 
CHAPTER : RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL 
22 
4.10.  TEST Key Code Control Register XBS RAM : TKCCRX 
This section explains the bit structure of TEST Key Code Control Register XBS RAM. 
The TEST key code control register (TKCCRX) is used to start or forcibly terminate the RAM diagnosis or 
initialization for XBS RAM. 
 
 TKCCRX: Address 3023
H
 (Access: Byte, Half-word, Word))
 
BIT 
KEY1 
KEY0 
Reserved 
CODE1 
CODE0 
 
Initial values 
R0, W 
R0, W 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R/W 
R/W 
Attributes 
 
[bit7, bit6] KEY1, KEY0: Key code control bits
 
Key code control bits. Operation is performed when operation indication content is set to CODE[1:0] (no 
change during operation).   
The procedure of the state transition is: 
1.   00 -> 01 -> 10 -> 11 : Write in this order. 
2.   Same values in CODE[1:0]. 
3.   Different operations (access or read other registers for RAM diagnosis, or continuous write in the 
different order other than the above) within the procedure will be invalid. 
 
Note: 
The key code process will be continued even if any access to the registers in the RAMECC is made in the 
procedure. 
 
[bit5 to bit2] Reserved
 
Reserved bits. These bits read out "0". At writing, write "0". 
 
[bit1, bit0] CODE1, CODE0: RAM diagnosis/initialization control bits
 
These bits specify operational direction for the key code procedure above. 
CODE1, CODE0
 
Function 
00 
Forced termination 
01 
Initialization start 
10 
Diagnosis start 
11 
Setting prohibited 
 
If this value is changed or set to "11" during operating the key code above, the key code procedure itself 
will be invalid. 
 
 
MB91520 Series
MN705-00010-1v0-E
2143