Fujitsu FR81S User Manual

Page of 2342
CHAPTER 50: RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
 
 
4. Registers 
 
FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED 
CHAPTER : RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL 
23 
4.11.  TEST Error Address Register 0 BACKUP-RAM : 
TEAR0A 
This section explains the bit structure of TEST Error Address Register 0 BACKUP-RAM. 
If an error occurs during RAM diagnosis for Backup RAM, TEST error address register 0 (TEAR0A) holds 
the relevant address. 
 
 TEAR0A: Address 3030
H
 (Access: Byte, Half-word, Word)
 
31 
30 
29 
28 
27 
26 
25 
24 
BIT 
TER2 
TER1 
TER0 
Reserved 
 
Initial values 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
Attributes 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
23 
22 
21 
20 
19 
18 
17 
16 
BIT 
Reserved 
 
Initial values 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
Attributes 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
15 
14 
13 
12 
11 
10 
BIT 
Reserved 
D10 
D9 
D8 
 
Initial values 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
Attributes 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
BIT 
D7 
D6 
D5 
D4 
D3 
D2 
D1 
D0 
 
Initial values 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
R, WX 
Attributes 
 
[bit31 to bit29] TER2 to TER0: Diagnosis error factor specification bits
 
During RAM diagnosis for Backup RAM, these bits hold a diagnosis pattern for which the error occurred. 
D10 to D0 are valid only when one of the bits is set to "1". 
TER2 
TER1 
TER0 
Function 
D10 to D0 are invalid with no error generated 
An error occurs during march diagnosis 
An error occurs during checker diagnosis 
An error occurs during unique diagnosis 
 
These bits are initialized (cleared to "000") by hardware, using the RAM diagnosis start instruction as the 
trigger. 
 
 
MB91520 Series
MN705-00010-1v0-E
2144