Fujitsu FR81S User Manual

Page of 2342
CHAPTER 50: RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
 
 
4. Registers 
 
FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED 
CHAPTER : RAM DIAGNOSIS FUNCTION 
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL 
31 
4.16.  TEST Diagnosis Function Register BACKUP-RAM : 
TTCRA 
This section explains the bit structure of TEST Diagnosis Function Register BACKUP-RAM. 
The TEST diagnosis function register (TTCRA) specifies the RAM diagnosis content for Backup RAM, 
and holds the diagnosis result and its status. 
 
 TTCRA: Address 3042
H
 (Access: Byte, Half-word, Word)
 
15 
14 
13 
12 
11 
10 
BIT 
Reserved 
TSTAT 
OVFLW 
 
Initial values 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R0, W0 
R, WX 
R, WX 
Attributes 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
BIT 
TEIE 
TEI 
TCIE 
TCI 
TTYP2 
TTYP1 
TTYP0 
TRUN 
 
Initial values 
R/W 
R(RM1),W 
R/W 
R (RM1), W 
R/W 
R/W 
R/W 
R, WX 
Attributes 
 
[bit15 to bit10] Reserved
 
Reserved bits. These bits read out "0". At writing, write "0". 
 
[bit9] TSTAT: RAM diagnosis error detection bit
 
TSTAT 
Function 
No error is detected with the RAM diagnosis 
An error is detected with the RAM diagnosis 
 
If an error occurs during RAM diagnosis for Backup RAM, this bit is set to "1".   
This bit is initialized (cleared to "0") by hardware, using the RAM diagnosis start instruction as the trigger. 
 
[bit8] OVFLW: RAM diagnosis error overflow bit
 
OVFLW 
Function 
During the RAM diagnosis, an error occurs in three or less addresses 
During the RAM diagnosis, an error occurs in four or more addresses 
 
If a RAM diagnosis error for Backup RAM occurs in four or more addresses, this bit is set to "1".   
This bit is initialized (cleared to "0") by hardware, using the RAM diagnosis start instruction as the trigger. 
 
MB91520 Series
MN705-00010-1v0-E
2152