Intel S5000XAL BB5000XALR User Manual

 

 

The output voltages shall remain within limits for the step loading and capacitive loading specified in the 
table below.  The load transient repetition rate shall be tested between 50 Hz and 5 kHz at duty cycles 
ranging from 10%-90%.  The load transient repetition rate is only a test specification.  The 

Δ step load 

may occur anywhere within the MIN load to the MAX load conditions. 

Δ Step Load Size 

+3.3V 5.0A  0.25 A/

μsec 250 

μF 

+5V 6.0A 0.25 A/

μsec 400 

μF 

12V1+12V2+12V3+12
V4  

28.0A 

0.25 A/

μsec 2200 

μF 

1,2

 

+5VSB 0.5A  0.25 A/

μsec 20 

μF 

μF evenly split between the four +12V rails. 

 

 

The power supply shall be stable and meet all requirements with the following capacitive loading ranges. 

+3.3V 250 6,800 

μF 

+5V 400 4,700 

μF 

+12V1,2,3,4 500 

each 

11,000 

μF 

-12V 1  350 

μF 

+5VSB 20  350 

μF 

 

The power supply shall be unconditionally stable under all line/load/transient load conditions including 
capacitive load ranges.  A minimum of: 45 degrees phase margin and -10dB-gain margin is required.  
Closed-loop stability must be ensured at the maximum and minimum loads as applicable. 

 

The common mode noise on any output shall not exceed 350 mV pk-pk over the frequency band of 10Hz 
to 30MHz. 

1.  The measurement shall be made across a 100 Ω resistor between each of the DC outputs, 

including ground, at the DC power connector and chassis ground (power subsystem enclosure). 

2.  The test set-up shall use an FET probe such as Tektronix* model P6046 or equivalent.