Intel III 600 MHz 80526PY600256 User Manual

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Magnitude describes the maximum potential difference between a signal and its voltage reference
level, V

SS

(overshoot) and V

TT

(undershoot). While overshoot can be measured relative to V

SS

using one probe (probe to signal and GND lead to V

SS

), undershoot must be measured relative to

V

TT

. This could be accomplished by simultaneously measuring the V

TT

plane while measuring the

signal undershoot. Today’s oscilloscopes can easily calculate the true undershoot waveform. The
true undershoot waveform can also be obtained with the following oscilloscope data file analysis:

Converted Undershoot Waveform = V

TT

- Signal_measured

The converted undershoot waveform appears as a positive (overshoot) signal.

Overshoot (rising edge) and undershoot (falling edge) conditions are separate and their impact
must be determined independently.

After the true waveform conversion, the undershoot/overshoot specifications shown in

Table 25

through

Table 27

can be applied to the converted undershoot waveform using the same magnitude

and pulse duration specifications used with an overshoot waveform.

Overshoot/undershoot magnitude levels must observe the Absolute Maximum Specifications listed
in

Table 25

through

Table 27

. These specifications must not be violated at any time regardless of

bus activity or system state. Within these specifications are threshold levels that define different
allowed pulse durations. Provided that the magnitude of the overshoot/undershoot is within the
Absolute Maximum Specifications (2.18V), the pulse magnitude, duration and activity factor must
all be used to determine if the overshoot/undershoot pulse is within specifications.

Pulse duration describes the total time an overshoot/undershoot event exceeds the overshoot/
undershoot reference voltage (Vos_ref = 1.635 V). The total time could encompass several
oscillations above the reference voltage. Multiple overshoot/undershoot pulses within a single
overshoot/undershoot event may need to be measured to determine the total pulse duration.

Oscillations below the reference voltage cannot be subtracted from the total overshoot/undershoot
pulse duration.

Multiple Overshoot/Undershoot events occurring within the same clock cycle must be considered
together as one event. Using the worst case Overshoot/Undershoot Magnitude, sum together the
individual Pulse Durations to determine the total Overshoot/Undershoot Pulse Duration for that
total event.

Activity Factor (AF) describes the frequency of overshoot (or undershoot) occurrence relative to a
clock. Since the highest frequency of assertion of an AGTL+ or a CMOS signal is every other
clock, an AF = 1 indicates that the specific overshoot (or undershoot) waveform occurs EVERY
OTHER clock cycle. Thus, an AF = 0.01 indicates that the specific overshoot (or undershoot)
waveform occurs one time in every 200 clock cycles.

The specifications provided in

Table 25

through

Table 27

show the Maximum Pulse Duration

allowed for a given Overshoot/Undershoot Magnitude at a specific Activity Factor. Each Table
entry is independent of all others, meaning that the Pulse Duration reflects the existence of
overshoot/undershoot events of that magnitude only. A platform with an overshoot/undershoot that