HGST HCS5C3232SLA380 User Manual

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HITACHI CinemaStar 5K 320 Hard Disk Drive specification (Rev 1.21) 
212 
11.42.7  Selective self-test log data structure 
The Selective self-test log is a log that may be both written and read by the host. This log allows the host to 
select the parameters for the self-test and to monitor the progress of the self-test. The following table defines the 
contents of the Selective self-test log which is 512 bytes long. All multi-byte fields shown in these data structures 
follow the ATA/ATAPI-7 specifications for byte ordering. 
 
Description
 
Bytes
 
Offset
 
Read/Write
 
Data structure revision
 
2
 
00h
 
R/W
 
Starting LBA for test span 1
 
8
 
02h
 
R/W
 
Ending LBA for test span 1
 
8
 
0Ah
 
R/W
 
Starting LBA for test span 2
 
8
 
12h
 
R/W
 
Ending LBA for test span 2
 
8
 
1Ah
 
R/W
 
Starting LBA for test span 3
 
8
 
22h
 
R/W
 
Ending LBA for test span 3
 
8
 
2Ah
 
R/W
 
Starting LBA for test span 4
 
8
 
32h
 
R/W
 
Ending LBA for test span 4
 
8
 
3Ah
 
R/W
 
Starting LBA for test span 5
 
8
 
42h
 
R/W
 
Ending LBA for test span 5
 
8
 
4Ah
 
R/W
 
Reserved
 
256
 
52h
 
Reserved
 
Vendor specific
 
154
 
152h
 
Vendor specific
 
Current LBA under test
 
8
 
1Ech
 
Read
 
Current span under test
 
2
 
1F4h
 
Read
 
Feature flags
 
2
 
1F6h
 
R/W
 
Vendor specific
 
4
 
1F8h
 
Vendor specific
 
Selective self-test pending time
 
2
 
1FCh
 
R/W
 
Reserved
 
1
 
1Feh
 
Reserved
 
Data structure checksum
 
1
 
1FFh
 
R/W
 
 
512
 
 
 
Table 156    Selective self-test log data structure 
 
11.42.7.1 
  Feature flags 
The Feature flags define the features of Selective self-test to be executed. 
Bit
 
Description
 
0
 
Vendor specific
 
1
 
When set to one, perform off-line scan after selective test.
 
2
 
Vendor specific
 
3
 
When set to one, off-line scan after selective test is pending.
 
4
 
When set to one, off-line scan after selective test is active.
 
5-15
 
Reserved.
 
Table 157    Selective self-test feature flags