Rgb Lasersysteme QWAVE UV Lux-Meter, illumination measuring device, Brightness meter, DSA491006 Data Sheet

Brennweite 75 mm

Numerische Apertur 0.10

Grating 600, 800 or 1800 Linien/mm

Eingangsspalt 20 µm (andere optional verfügbar)

Spektrale Auflösung

(FWHM)

VIS: 

0.5 nm

UV: 

0.2 nm

NIR: 

0.4 nm

Dynamikbereich 2000 : 1 (full scale, texp = 1 s)

Streulicht < 0.05 %

Belichtungszeit 100 µs to 600 s

Detektor 3648 Pixel linearer CCD Sensor

A/D Konverter 16 bit 15 MHz

Kalibrierung Wellenlänge, Empfindlichkeit und mehrere 

Dunkelspektren auf dem Qwave gespei-

chert

Übertragung zum PC 40 ms pro Spektrum

Optisches Interface SMA 

Digitales Interface USB 2.0

Abmessungen 89.5 × 68.0 × 19.5 mm (technische 

Zeichnung auf rgb-laser.com verfügbar)

Gewicht 155 g

Arbeitstemperature -15 °C to 60 °C (non-condensing)

Lagertemperature -25 °C to 70 °C

Stromverbrauch 5 V DC, 250 mA (über USB Port)

PC Betriebssystem Windows 8, 7, Vista, XP

MERKMALE:
•  Spektrale Auflösung: 0.5 nm (gesamter VIS Bereich)
•  Hohe Empfindlichkeit und dynamische Bandbreite
•  Aussergewöhnliche thermische Stabilität
•  Inklusive Waves - der intelligenten Spektroskopy Software

Mit einer Brennweite von 75 mm bietet das Qwave technische 

Eigenschaften, die Sie normalerweise in größeren Spektrometern 

vermuten würden. Im Zusammenspiel mit unseren einzigartigen 

Spektrokopiesoftware "Waves", ist es das ideale Spektrometer für 

alle wissenschaftlichen Anwendungen, die eine Auflösung von 0.2 

bis 0.5 nm und eine numerische Apertur von 0.1 erfordern.

•  Lichtanalyse
•  Chemische Forschung
•  Raman Spektroskopie
•  Forensische Analyse
•  Systemintegration
•  Prozess Kontrolle und -Überwachung

Das Qwave ist für 3 Wellenlängenbereiche erhältlich:
•  VIS: 

350 - 880 nm

•  UV:  

220 - 400 nm

•  NIR:  

700 - 1040 nm

•  Unterschiedliche Wellenlängenbereiche und Gratings
•  Wählbare Eingangsspalte (Auflösung vs. Empfindlichkeit)
•  RS-232 Interface
•  Wählbare optische Anschlussmöglichkeiten
•  I/O Port Adapter

KompaKtES USB SpEKtromEtEr

KomBiniErt ExzEllEntE tEchniSchE EigEnSchaftEn

mit aUSSErgEwöhnlichEr SpEKtroSKopiE SoftwarE

wave