Microchip Technology MA180025 Data Sheet

 2010 Microchip Technology Inc.

DS39933D-page 315

24.3.2

CAPACITANCE CALIBRATION

There is a small amount of capacitance from the inter-
nal A/D Converter sample capacitor as well as stray
capacitance from the circuit board traces and pads that
affect the precision of capacitance measurements. A
measurement of the stray capacitance can be taken by
making sure the desired capacitance to be measured
has been removed. The measurement is then
performed using the following steps:
1.

Initialize the A/D Converter and the CTMU.

2.

Set EDG1STAT (= 1).

3.

Wait for a fixed delay of time, t.

4.

Clear EDG1STAT.

5.

Perform an A/D conversion.

6.

Calculate the stray and A/D sample capacitances: 

where I is known from the current source measurement
step, t is a fixed delay and V is measured by performing
an A/D conversion. 

This measured value is then stored and used for
calculations of time measurement or subtracted for
capacitance measurement. For calibration, it is
expected that the capacitance of C

STRAY

+ C

AD

 is

approximately known; C

AD

 is approximately 4 pF. 

An iterative process may need to be used to adjust the
time, t, that the circuit is charged to obtain a reasonable
voltage reading from the A/D Converter. The value of t
may be determined by setting C

OFFSET

 to a theoretical

value, then solving for t. For example, if C

STRAY

 is

theoretically calculated to be 11 pF, and V is expected
to be 70% of V

DD

, or 2.31V, then t would be:

or 63

s.

See Example 24-3 for a typical routine for CTMU
capacitance calibration.

C

OFFSET

 = C

STRAY

 + C

AD

 = (I • t)/V

(4 pF + 11 pF) • 2.31V/0.55 

A