Microchip Technology MA330031-2 Data Sheet

Page of 530
dsPIC33EPXXXGP50X, dsPIC33EPXXXMC20X/50X AND PIC24EPXXXGP/MC20X
DS70000657H-page 408
 2011-2013 Microchip Technology Inc.
TABLE 30-11: DC CHARACTERISTICS: I/O PIN INPUT SPECIFICATIONS
DC CHARACTERISTICS
Standard Operating Conditions: 3.0V to 3.6V
(unless otherwise stated)
Operating temperature
-40°C
 T
A
 
 +85°C for Industrial
-40°C
 T
A
 
 +125°C for Extended
Param
 No.
Symbol
Characteristic
Min.
Typ.
Max.
Units
Conditions
V
IL
Input Low Voltage
DI10
Any I/O Pin and MCLR
V
SS
0.2 V
DD
V
DI18
I/O Pins with SDAx, SCLx
V
SS
0.3  V
DD
V
SMBus disabled
DI19
I/O Pins with SDAx, SCLx
V
SS
0.8
V
SMBus enabled
V
IH
Input High Voltage
DI20
I/O Pins Not 5V Tolerant
0.8 V
DD
V
DD
V
(Not
)
I/O Pins 5V Tolerant and 
MCLR
0.8 V
DD
5.5
V
(Not
)
I/O Pins with SDAx, SCLx
0.8 V
DD
5.5
V
SMBus disabled
I/O Pins with SDAx, SCLx
2.1
5.5
V
SMBus enabled
I
CNPU
Change Notification 
Pull-up Current
DI30
150
250
550
A
V
DD
 = 3.3V, V
PIN
 = V
SS
I
CNPD
Change Notification 
Pull-Down Current
)
DI31
20
50
100
A
V
DD
 = 3.3V, V
PIN
 = V
DD
Note 1:
The leakage current on the MCLR pin is strongly dependent on the applied voltage level. The specified 
levels represent normal operating conditions. Higher leakage current can be measured at different input 
voltages.
2:
Negative current is defined as current sourced by the pin.
3:
See the 
 section for the 5V tolerant I/O pins.
4:
V
IL
 source < (V
SS
 – 0.3). Characterized but not tested.
5:
Non-5V tolerant pins V
IH
 source > (V
DD
 + 0.3), 5V tolerant pins V
IH
 source > 5.5V. Characterized but not 
tested.
6:
Digital 5V tolerant pins cannot tolerate any “positive” input injection current from input sources > 5.5V.
7:
Non-zero injection currents can affect the ADC results by approximately 4-6 counts. 
8:
Any number and/or combination of I/O pins not excluded under I
ICL
 or I
ICH
 conditions are permitted 
provided the mathematical “absolute instantaneous” sum of the input injection currents from all pins do not 
exceed the specified limit. Characterized but not tested.