Microchip Technology ADM00317 Data Sheet

© 2011-2012 Microchip Technology Inc.

DS22272C-page 61

The Gain error (see 

) is the difference

between the actual full-scale output voltage from the
ideal output voltage of the DAC transfer curve. The
Gain error is calculated after nullifying the Offset error,
or Full-Scale error minus the Offset error.

The Gain error indicates how well the slope of the
actual transfer function matches the slope of the ideal
transfer function. The Gain error is usually expressed
as percent of full-scale range (% of FSR) or in LSb.

In the MCP4706/4716/4726, the Gain error is not
calibrated at the factory and most of the Gain error is
contributed by the output buffer (op amp) saturation
near the code range beyond 4000d. For the
applications that need the Gain error specification less
than 1% maximum, the user may consider using the
DAC code range between 100d and 4000d instead of
using full code range (code 0 to 4095d). The DAC
output of the code range between 100d and 4000d is
much more linear than full-scale range (0 to 4095d).
The Gain error can be calibrated out by software in the
application.

The Gain error drift is the variation in Gain error due to
a change in ambient temperature. The Gain error drift
is typically expressed in ppm/

o

C.

The Offset error drift is the variation in Offset error due
to a change in ambient temperature. The Offset error
drift is typically expressed in ppm/

o

C.

The Settling time is the time delay required for the V

OUT

voltage to settle into its new output value. This time is
measured from the start of code transition, to when the
V

OUT

 voltage is within the specified accuracy. 

In the MCP47X6, the settling time is a measure of the
time delay until the V

OUT

 voltage reaches within 0.5

LSb of its final value, when the volatile DAC register
changes from 400h to C00h.

Major-code transition glitch is the impulse energy
injected into the DAC analog output when the code in
the DAC register changes state. It is normally specified
as the area of the glitch in nV-Sec, and is measured
when the digital code is changed by 1 LSb at the major
carry transition (Example: 011...111 to 100...
000

, or 100... 000 to 011 ... 111).

The digital feedthrough is the glitch that appears at the
analog output caused by coupling from the digital input
pins of the device. The area of the glitch is expressed
in nV-Sec, and is measured with a full scale change
(Example: all 0s to all 1s and vice versa) on the digital
input pins. The digital feedthrough is measured when
the DAC is not being written to the output register. 

PSRR indicates how the output of the DAC is affected
by changes in the supply voltage. PSRR is the ratio of
the change in V

OUT

 to a change in V

DD

 for full-scale

output of the DAC. The V

OUT

 is measured while the

V

DD

 is varied +/- 10%, and expressed in dB or µV/V. 

Analog

Output

Actual Transfer Function

Actual Transfer Function

DAC Input Code

0

Gain Error 

Ideal Transfer Function

after Offset Error is removed

Full-Scale

 Error 

Zero-Scale

 Error