Intel D2500 DF8064101055400 Data Sheet

Product codes
DF8064101055400
Page of 122
120
Datasheet - Volume 1 of 2
9
Testability 
In Intel Atom Processor SC and DC Series, testability for Automated Test Equipment 
(ATE) board level testing has been implemented as JTAG boundary scan.
9.1
JTAG Boundary Scan
The Intel Atom Processor D2000 and N2000 series add Boundary Scan ability 
compatible with the IEEE 1149.1-2001 Standard (Test Access Port and Boundary-Scan 
Architecture) specification. Refer to following figure for test mode entry.
TRST# can be deasserted any time after PWROK. After TRST# deassertion, it is 
advisable (but not compulsory) to keep TMS high for at least 5 TCKs. 
There are no straps or other clocks that need to be driven during BScan. All power rails 
need to be supplied with power during Boundary scan
Figure 9-21.JTAG Boundary Scan Test Mode Initialization Cycles
PWROK
PWRGOOD
RESET_#
TCK
TMS
TRST#