Hitachi H8/3690 Manual De Usuario

Descargar
Página de 397
Rev. 1.0, 07/01, page 300 of 372
Test
Values
Item
Symbol
Condition
Min
Typ
Max
Unit
Erasing
Wait time after SWE
bit setting
*
1
x
1
µs
Wait time after ESU
bit setting
*
1
y
100
µs
Wait time after E bit
setting
*
1
*
6
z
10
100
ms
Wait time after E bit clear
*
1
α
10
µs
Wait time after ESU bit clear
*
1
β
10
µs
Wait time after EV
bit setting
*
1
γ
20
µs
Wait time after dummy write
*
1
ε
2
µs
Wait time after EV bit clear
*
1
η
4
µs
Wait time after SWE
bit clear
*
1
θ
100
µs
Maximum number of
erases
*
1
*
6
*
7
N
120
Times
Notes: 1. Make the time settings in accordance with the program/erase algorithms.
2. The programming time for 128 bytes. (Indicates the total time for which the P bit in flash
memory control register 1 (FLMCR1) is set. The program-verify time is not included.)
3. The time required to erase one block. (Indicates the time for which the E bit in flash
memory control register 1 (FLMCR1) is set. The erase-verify time is not included.)
4. Programming time maximum value (t
P
(MAX)) = wait time after P bit setting (z) 
×
maximum number of writes (N)
5. Set the maximum number of writes (N) according to the actual set values of z1, z2, and
z3, so that it does not exceed the programming time maximum value (t
P
(MAX)). The
wait time after P bit setting (z1, z2) should be changed as follows according to the value
of the number of writes (n).
Number of writes (n)
 n 
 6
z1 = 30 µs
 n 
 1000
z2 = 200 µs
6. Erase time maximum value (t
E
(max)) = wait time after E bit setting (z) 
×
 maximum
number of erases (N)
7. Set the maximum number of erases (N) according to the actual set value of (z), so that
it does not exceed the erase time maximum value (t
E
(max)).