Metrel MI 3122VDE-tester VDE 0100 20991539 Manual De Usuario
Los códigos de productos
20991539
Strona 43 z 60
Dystrybucja Conrad Electronic Sp. z o.o., ul. Kniaźnina 12, 31-637 Kraków, Polska
Copyright © Conrad Electronic 2015, Kopiowanie, rozpowszechnianie, zmiany bez zgody zabronione.
www.conrad.pl
www.conrad.pl
6. Obsługa danych
6.1 Organizacja pamięci
W pamięci urządzenia mogą być przechowywane pomiary razem ze wszystkimi istotnymi
parametrami.
parametrami.
6.2 Struktura danych
Obszar pamięci urządzenia jest podzielony na 3 poziomy, każdy z nich zawiera 199 lokacji. Ilość
pomiarów możliwych do przechowania w jednej lokalizacji nie jest ograniczony.
pomiarów możliwych do przechowania w jednej lokalizacji nie jest ograniczony.
Pole struktury danych opisuje jednostkę pomiaru (który obiekt, blok, bezpiecznik) oraz gdzie można
go dostać.
go dostać.
W polu pomiar zawarta jest informacja na temat typu i ilości pomiarów, które należą do wybranej
struktury elementu (obiekt, blok i bezpiecznik).
struktury elementu (obiekt, blok i bezpiecznik).
Taka organizacja pozwala na obróbkę danych w prosty i efektywny sposób.
Główną przewagą tego systemu są:
Wyniki testów mogą być organizowane i grupowane w ustrukturyzowany sposób
odzwierciedlający strukturę typowej instalacji elektrycznej.
odzwierciedlający strukturę typowej instalacji elektrycznej.
Proste przeglądanie danych i odnajdywanie wyników.
Raporty z testów mogą być tworzone bez konieczności modyfikacji danych po przeniesieniu
ich na PC.
ich na PC.
Ilustracja 6.1: Struktura danych i pola pomiarów
Pole struktury danych
Menu operacji na pamięci
Pole struktury danych
Poziom korzenia w strukturze:
OBJECT: 1szy poziom lokalizacji nazwy
001: Numer wybranego obiektu
Pod-poziom (poziom2) w strukturze:
BLOCK: 2gi poziom lokalizacji nazwy