Microchip Technology MCP2551-E/SN Linear IC MCP2551-E/SN Hoja De Datos

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© 2010 Microchip Technology Inc.

V

DD

.............................................................................................................................................................................7.0V

DC Voltage at TXD, RXD, V

REF

 and V

S

............................................................................................ -0.3V to V

DD

 + 0.3V

DC Voltage at CANH, CANL (Note 1) .......................................................................................................... -42V to +42V

Transient Voltage on Pins 6 and 7 (Note 2) ............................................................................................. -250V to +250V

Storage temperature ...............................................................................................................................-55°C to +150°C

Operating ambient temperature ..............................................................................................................-40°C to +125°C

Virtual Junction Temperature, T

VJ

 (Note 3).............................................................................................-40°C to +150°C

Soldering temperature of leads (10 seconds) ....................................................................................................... +300°C

ESD protection on CANH and CANL pins (Note 4) ................................................................................................... 6 kV

ESD protection on all other pins (Note 4) .................................................................................................................. 4 kV

Note 1: Short-circuit applied when TXD is High and Low.

2: In accordance with ISO-7637.

3: In accordance with IEC 60747-1.

4: Classification A: Human Body Model.

† NOTICE: Stresses above those listed under “Maximum ratings” may cause permanent damage to the device. This
is a stress rating only and functional operation of the device at those or any other conditions above those indicated in
the operational listings of this specification is not implied. Exposure to maximum rating conditions for extended periods
may affect device reliability.