Lucent Technologies Release 7 Manuel D’Utilisation

Issue 4

June 1999

Maintenance Object Repair Procedures 

9-1037

MEM-BD (32MB Memory Circuit Pack) 

1339

ABORT

The test could not run on the standby Memory circuit pack in the standby SPE 
carrier because the standby SPE is unavailable.

1. Refer to the section on "STBY-SPE (Standby SPE Maintenance)" 

procedures for information on why a standby SPE may be unavailable and 
what repair actions should be taken. The status spe screen should 
indicate that handshake is down. This may be caused by a variety of 
reasons such as the SPE-SELECT switches on the DUPINT circuit packs 
being set to the position of the active SPE, a failure of the DUPINT circuit 
pack, or loss of power on the standby SPE. The 

SPE Selected field on the 

status spe-standby screen will display 

spe a or spe b if both SPE-SELECT 

switches are in the a or b positions, respectively.

2000

ABORT

Response to the test request was not received within the allowable time period. 
If the system is equipped with the High Reliability or Critical Reliability 
Configuration and if the Memory circuit pack is on the standby SPE, this abort 
code may indicate that the standby SPE is not responding to the handshake 
message. If this is the case, the standby SPE maintenance software may take 
up to two minutes to indicate that handshake communication with the standby 
SPE is down. The ABORT code will then change to 1339 (handshake 
communication down).

1. Retry the command at 1-minute intervals, a maximum of 3 times.

2315

ABORT

The test was not run, because this is an extra Memory circuit pack. No testing is 
allowed for extra Memory circuit packs.

2334

ABORT

The hardware mailbox on the standby Duplication Interface board is not ready 
to receive messages.

1. Retry the command at 1-minute intervals, a maximum of 5 times.

FAIL

The Burst Read circuit is not functioning properly.

1. If the test fails on more than one Memory circuit pack, replace the 

Processor and retry the test.

2. If the test fails only on one Memory circuit pack, replace the affected 

Memory circuit pack.

3. If the test continues to fail only on the same Memory circuit pack, replace 

the Processor. To replace the circuit packs, use the procedure described in 
Replacing SPE Circuit Packs in Chapter 5.

PASS

The Burst Read portion of the Memory and Processor circuit packs is operating 
correctly.