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Lucent Technologies Release 7 Manuel D’Utilisation

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DEFINITY Enterprise Communications Server Release 7 
Maintenance for R7r  
555-230-126  
Issue 4
June 1999
Maintenance Commands 
8-329
test ds1-loop 
8
Parameters 
Examples
test ds1-facility 04a01d
test ds1-facility 03a01a sh c
test ds1-loop
test ds1-loop - For TN464F or TN767E or later suffix DS1 Interface circuit packs. 
This command is used for loopback and one-way span testing of the DS1 span.
Synopsis
test ds1-loop location [cpe-loopback-jack-test-begin [number-of-bits 
bit-pattern] | far-csu-loopback-test-begin | one-way-span-test-begin | 
end-loopback/span-test | inject-single-bit-error | ds1/csu-loopback-tests]
Permissions
Logins with the following service levels may execute this command: system 
technician, inads, init, super-user, or logins with Maintain Switch Circuit Packs 
permissions enabled.
Examples
test ds1-loop 01c08
test ds1-loop 1-3c03 cpe-loopback-jack
test ds1-loop 1-3c03 cpe
test ds1-loop 10c03 end
test ds1-loop 02d12 fa
test ds1-loop 02d12 inj
UUCSSf
A DS1 facility is specified by the location of the DS1 Converter circuit pack 
and a letter from a to d corresponding to the four facilities connected to the 
circuit pack.
external 
loopback
This specifies a destructive test that sends a test pattern to an external 
device and returns it for comparison to the original. Configure the external 
device to loop back the signal. See “DS1-FAC (DS1 Facility)” and 
“DS1C-BD (DS1 Converter)” in Chapter 9.