JDS Uniphase 10G Fascicule

Page de 2
COMMUNICATIONS TEST & MEASUREMENT SOLUTIONS
WEBSITE: 
www.jdsu.com
Introducing  
Module-E 10G  
within 
ONT-503/506/512
All major operators view 10 Gigabit Ethernet (10GigE) as the key enabling technology in 
today’s market and are implementing it in their networks as LAN, WAN, or in combina-
tion with OTN.
The major challenge of manufacturers is to provide interface cards with capabilities for 
multiple technologies. They need to verify the ports against various standards, such as 
IEEE and ITU-T, to ensure that all of the network layers are interacting properly. As Eth-
ernet behavior changes from “best effort” to “carrier grade”, comprehensive testing is 
required.
The Module-E 10G for JDSU’s ONT-503/506/512 addresses the needs of R&D and SVT 
labs by providing all of the necessary functionality for testing layers 1 up to 3 of 10GigE 
LAN and WAN networks optical at different wavelengths and with electrical interfaces.
For these applications Module-E provides all necessary technologies LAN, WAN, FC, 
SONET/SDH, OTN and has stressed eye and jitter on its roadmap.
R&D and Compliance Testing
 Built-in switchable and XFP 
optics and high output electrical 
interface
 Unframed BERT at 9.95, 10.0, 
10.3, 10.5, 10.66, 10.7, 11.05, 
11.1, 11.27, 11.32 Gb/s
 SONET/SDH framed signals with 
HO mappings
 SONET/SDH MultiChannel 
(192xSTS-1, 64xAU-3/-4)
 OTN at 10.7, 11.05, 11.1, 11.27, 
11.32 Gb/s with FEC stress 
testing
 ONT Wrapper/de-wrapper 
testing
 10GigE LAN/WAN BERT and L2/
L3 traffic
 10G Fiber Channel BERT
 256 MAC/IP Flows with 256 
independent filters
 10 mixed VLAN / MPLS tags
 Enhanced Ethernet frames VPLS, 
MAC-in-MAC
 QoS, service disruption, packet 
jitter, BERT per flow 
Stressed eye testing
Jitter/wander testing