JDS Uniphase MTS-8000 Manuel D’Utilisation

Page de 4
MTS-8000 Tester
2
Automatic bi-directional 
measurement function
• Automate the acquisition process
• Check fiber continuity
• File transfer through the fiber
• True splice loss with both end analysis
• Optical talkset option needed
Bi-directional OTDR analysis

1
1
1
1
1
2
3
4
Pulse delay method complies with TIA/EIA FOTP-168
DUT
Polarized
Broadband
Source
Analyzer
OSA
PMD test results with Pass/Fail analysis
Local
Remote
MTS-8000 00286
UHD 1310/1550/1625 nm
MTS-8000 00439
UHD 1310/1550/1625 nm
Tested fiber
Data
PC software solution for report generation
OFS-100 Results Analysis
• OTDR, CD, PMD, AP, and OSA results 
analysis
• Batch processing capability via automation 
process
• Pass/Fail function
• Customized printouts
OFS-200 FiberCable Acceptance 
Report Generation
• Complete fiber characterization reporting 
capability including bi-directional OTDR, 
CD, PMD, AP, IL and ORL results
• Advanced OTDR evaluation for loop back 
and mid-point management
• Powerful report preview 
• Direct access keys for easy process and 
efficiency
Single menu for chromatic dispersion trace and table 
display
Fiber Characterization
CD Module
• Pulse delay method complies with TIA/EIA 
FOTP-168
• Fast single-end measurement with sectional 
analysis capability
• CD analyzer and four-wavelength OTDR 
(1310/1480/1550/1625 nm) with one module
Physical Fiber Testing
Key features OTDR
• Fast data acquisition enables VHD plug-in 
to reach 40 dB after 10 s with a maximum 
performance up to 45 dB
• Highest dynamic range with 50 dB at 
1550 nm, UHD module
• New VLR module with outstanding dead 
zone of 0.8 m EDZ and 4 m ADZ, 43 dB 
dynamic
• Fastest scan speed at 0.1 s in real-time mode
• Up to 128000 acquisition points with sam-
pling resolution down to 4 cm
Built-in Optical Talkset
• Data transfer capability: file exchange or 
remote control
• Used also for fully automatic bi-directional 
measurements
• OTS-55 handheld for far end communica-
tion
PMD Module
• Fixed analyzer method standardized by 
ITU-T, IEC and TIA/EIA
• Fast measurement time – from just 
6 seconds
• Measure through multiple EDFAs