Atmel Evaluation Kit for AT32uC3A0512, 32-Bit AVR Microcontroller Atmel ATEVK1105 ATEVK1105 Fiche De Données

In order to use this module, other parts of the system must be configured correctly, as described

below.

The JTAG interface pins are multiplexed with IO lines. When the JTAG is used the associated

pins must be enabled. To enable the JTAG pins TCK must be zero while RESET_N has a zero

to one transition. To disable the JTAG pins TCK must be one while RESET_N has a zero to one

transition. 
While using the JTAG lines all normal peripheral activity on these lines are disabled. The user

must make sure that no external peripheral is blocking the JTAG lines while debugging.

The JTAG interface is accessed through the dedicated JTAG pins shown in 

. The TMS control line navigates the TAP controller, as shown in 

The TAP controller manages the serial access to the JTAG Instruction and Data registers. Data

is scanned into the selected instruction or data register on TDI, and out of the register on TDO,

in the Shift-IR and Shift-DR states, respectively. The LSB is shifted in and out first. TDO is high-

Z in other states than Shift-IR and Shift-DR.
Independent of the initial state of the TAP Controller, the Test-Logic-Reset state can always be

entered by holding TMS high for 5 TCK clock periods. This sequence should always be applied

at the start of a JTAG session to bring the TAP Controller into a defined state before applying

JTAG commands. Applying a 0 on TMS for 1 TCK period brings the TAP Controller to the Run-

Test/Idle state, which is the starting point for JTAG operations.
The device implements a 5-bit Instruction Register (IR). A number of public JTAG instructions

defined by the JTAG standard are supported, as described in 

, as well as a number

of AVR32-specific private JTAG instructions described in 

. Each instruction selects

a specific data register for the Shift-DR path, as described for each instruction.

I/O Lines Description

TCK

Test Clock Input. Fully asynchronous to system clock frequency.

Input

TMS

Test Mode Select, sampled on rising TCK

Input

TDI

Test Data In, sampled on rising TCK.

Input

TDO

Test Data Out, driven on falling TCK.

Output

32058K

AVR32-01/12