Manualsbrain.com
  1. Manuels
  2. Marques
  3. Renesas
  4. R61509V
  5. Manuel D’Utilisation

Renesas R61509V Manuel D’Utilisation

Télécharger
Page de 181
R61509V 
        Target 
Spec 
 
Rev. 0.11 April 25, 2008, page 18 of 181  
 
Table 9 Others (test, dummy pins) 
Signal I/O 
Connect 
to 
Function 
When not in 
use 
VTEST 
O 
Open 
Test pin.  Leave open. 
Open 
VREFC 
I 
GND 
Test pin.  Make sure to fix to the GND level. 
- 
VREFD 
O 
Open 
Test pin.  Leave open. 
Open 
 
 
 
 
 
VREF 
O 
Open 
Test pin.  Leave open. 
Open 
VDDTEST 
I 
GND 
Test pin.  Make sure to fix to the GND level. 
- 
VMON 
O 
Open 
Test pin.  Leave open. 
Open 
VCIR 
O 
Open 
Test pin.  Leave open. 
Open 
GNDDUM1-
10, 
AGNDDUM1
-5, 
VCCDUM, 
IOVCCDUM
1-2 
O 
- 
Pins to fix the electrical potentials of unused interface and test pins.  
 
Open 
DUMMYR 
1-4 
- 
- 
DUMMYR1 and DUMMYR4, DUMMYR2 and DUMMYR3 are short-
circuited within the chip for COG contact resistance measurement. 
Open 
VGLDMY 
1-4 
O Unused 
gate line  
Output VGL level. Use when fixing unused gate line of the panel.  
Open 
DUMMYA 
―
  Open  
Dummy pad. Leave open.  
OPEN 
DUMMYB 
―
  Open  
Dummy pad. Leave open. 
OPEN 
DUMMYC 
―
  Open 
Dummy pad. Leave open. 
OPEN 
TESTO1-15 O  ― 
Dummy pad. Leave open.  
OPEN 
TEST 
1-5 
I 
GND 
Test pin. Connect to GND.  
GND 
TS0-8 
O 
Open  
Test pin. Leave open.  
OPEN 
VPP3B 
I 
AGND 
Test pin. Connect to AGND.  
―
 
TSC 
I 
GND 
Test pin. Connect to GND.  
GND 
 
 
Patents of dummy pin, which is used to fix to VCC or GND are granted. 
PATENT ISSUED:  
United States Patent No. 6,924,868  
United States Patent No. 6,323,930 
Japanese Patent No. 3,980,066 
Korean Patent No. 401,270 
Taiwanese Patent No. 175,413