Texas Instruments Development Kit for TM4C129x,Tiva™ ARM® Cortex™ -M4 Microcontroller DK-TM4C129X DK-TM4C129X Scheda Tecnica

This register is used for self-test and external pin access. It is write-enabled by setting the

TEST

bit

in the CANCTL register. Different test functions may be combined, however, CAN transfers are
affected if the

TX

bits in this register are not zero.

CAN Test (CANTST)

CAN0 base: 0x4004.0000
CAN1 base: 0x4004.1000
Offset 0x014
Type RW, reset 0x0000.0000

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

31

reserved

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

Type

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

Reset

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

reserved

BASIC

SILENT

LBACK

TX

RX

reserved

RO

RO

RW

RW

RW

RW

RW

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

RO

Type

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

Reset

Description

Reset

Type

Name

Bit/Field

Software should not rely on the value of a reserved bit. To provide
compatibility with future products, the value of a reserved bit should be
preserved across a read-modify-write operation.

0x0000.00

RO

reserved

31:8

Receive Observation

Description

Value

The

CANnRx

pin is low.

0

The

CANnRx

pin is high.

1

0

RO

RX

7

Transmit Control

Overrides control of the

CANnTx

pin.

Description

Value

CAN Module Control

CANnTx

is controlled by the CAN module; default

operation

0x0

Sample Point

The sample point is driven on the

CANnTx

signal. This

mode is useful to monitor bit timing.

0x1

Driven Low

CANnTx

drives a low value. This mode is useful for

checking the physical layer of the CAN bus.

0x2

Driven High

CANnTx

drives a high value. This mode is useful for

checking the physical layer of the CAN bus.

0x3

0x0

RW

TX

6:5