Samsung 100737108-A ユーザーズマニュアル

ページ / 83
Spinpoint M8-DVR OEM Product Manual REV 1.0 
71 
 
 
 
 
   
device  shall  suspend  off-line  data  collection  activity  after  an  interrupting  command  and  resume  off-line 
data collection activity after some vendor-specified  event. 
 
   Bit 3 (off-line read scanning implemented bit) - If this bit is cleared to zero, the device does not support 
off-line read scanning. If this bit is set to one, the device supports off-line read scanning 
 
   Bit 4 (self-test implemented bit) – If this bit is cleared to zero, the device does not implement the Short 
and  Extended  self-test  routines.  If  this  bit  is  set  to one,  the  device  implements  the  Short  and Extended 
self-test routines. 
 
   Bit 7-5 (reserved). 
 
SMART capability 
 
 
The  following  describes  the definition  for the  SMART  capability  bits.  If the value of all of these  bits is  equal 
to zero, then this device does not implement automatic saving of SMART data. 
 
 
    Bit  0  (power  mode  SMART  data  saving  capability  bit)  –  If  the  value  of  this  bit  equals  one,  the  device 
shall  save  its  SMART  data  prior  to  going  into  a  power  saving  mode  (Idle,  Standby,  or  Sleep)  or 
immediately  upon  return  to  Active  or  Idle  mode  from  a  Standby  mode.  If  the  value  of  this  bit  equals  zero, 
the  device  shall  not  save  its  SMART  date  prior  to  going  into  a  power  saving  mode  (Idle,  Standby,  or 
Sleep) or immediately upon return to Active or Idle mode from a Standby mode. 
 
    Bit 1 (SMART data auto-save after event capability bit) – The value of this bit shall be equal to one for 
devices complying with this standard. 
 
   Bits 2-15 (reserved). 
 
Self-test routine recommended polling time 
 
The  self-test  routine  recommended  polling  time  shall  be  equal  to  the  number  of  minutes  that  is  the  minimum 
recommended  time before which  the host should first poll for test completion status. Actual test time could be 
several  times  this  value.  Polling  before  this  time  could  extend  the  self-test  execution  time  or abort  the  test 
depending on the state of bit 2 of the off-line data capability bits. 
 
The  data  structure  checksum  is  the  two’s  compliment  of  the  result  of a  simple  eight-bit  addition  of  the  first  511 
bytes in the data structure. 
 
8.2.34.6         SMART read log sector (D5h)
 
 
This command returns the indicated log sectors to the host. 
 
8.2.34.7         SMART return status (DAh) 
 
This command  is used to communicate  the reliability  status  of the device to the host at the host’s request.  If a 
threshold exceeded condition is not detected by the device, the device shall set the Cylinder Low register to 
4Fh  and  the Cylinder  High  register  to C2h. If  the device  detects  a threshold-exceeded  condition,  the device 
shall set Cylinder Low register to F4h and Cylinder High register to 2Ch 
 
 
8.2.34.8         SMART write log sector (D6h) 
 
 
This command writes number of 512-byte data sectors to the indicated log sector.