Agilent Technologies 20ET ユーザーズマニュアル

Making Time Domain Measurements

Use the low pass mode to analyze the test device’s small signal transient response. The 
transmission response of a device to a step input is often measured at lower frequencies, 
using a function generator (to provide the step to the test device) and a sampling 
oscilloscope (to analyze the test device output response). The low pass step mode extends 
the frequency range of this type of measurement to the maximum frequency of the 
analyzer.

The step input shown in 

 is the inverse Fourier transform of the frequency 

domain response of a thru measured at calibration. The step rise time is proportional to 
the highest frequency in the frequency domain sweep; the higher the frequency, the faster 
the rise time. The frequency sweep in 

 is from 10 MHz to 1 GHz.

 also illustrates the time domain low pass response of an amplifier under test. 

The average group delay over the measurement frequency range is the difference in time 
between the step and the amplifier response. This time domain response simulates an 
oscilloscope measurement of the amplifier’s small signal transient response. Note the 
ringing in the amplifier response that indicates an under-damped design.