Lucent Technologies lucent ユーザーズマニュアル

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DEFINITY Enterprise Communications Server  Release 6
Maintenance for R6vs/si  
555-230-127   
Issue 1
August 1997
Maintenance Object Repair Procedures 
Page 10-532
DS1-BD (DS1 Interface Circuit Pack) 
10
Far CSU Loopback Test (#1213)
This test is destructive.
The Far CSU Loopback (R-LLB) Test causes a loopback at the far-end CSU and 
tests all circuitry and facilities from the local TN767E DS1 board to the far-end 
CSU.
The test is destructive and can only be initiated by a system technician 
demanded 
test ds1-loop PCSS far-csu-loopback-test-begin
 command.
All trunks or ports on the DS1 Interface circuit pack must be busied out via the 
system technician 
busyout board
 command before running the Far CSU 
Loopback Test.
If the far-end CSU is not a 120A CSU Module, and the DS1 is administered for 
ami-zcs line coding, one’s density protection must be disabled on the CSU 
during the test due to the large number of zero’s in the 3-in-24 test pattern.
The Far CSU Loopback Test has the TN767E DS1 Interface circuit pack transmit 
a loopback activation code to the remote CSU, waits up to 15 seconds for return 
of the code to verify the loopback has been established, transmits a framed 
3-in-24 test pattern, begins counting bit errors in the received test pattern, and 
returns a PASS result. If the loopback is not established within the 15 seconds, 
the test fails.
The status of the Far CSU Loopback test will be available in the hardware error 
log via error type 3901. Several distinct aux values will be used to give the user 
information of the status of the test.
The 
list measurements ds1 summary
 command will display the length of time the 
test has been running (
Test Duration
 field) and number of bit errors detected 
(
Loopback/Span Test Bit-Error Count
 field). If the test pattern is being passed 
through the loopback cleanly, the number of bit errors should be very low. The 
command will also display the type of loopback/span test executing (
Test 
field), 
the type of pattern generated for the loopback/span test (
Pattern 
field), and 
whether the pattern (
i.e.
 
3-in-24 Pattern
) is synchronized (
Synchronized 
field).
To terminate the test, enter 
t
est ds1-loop PCSS end-loopback/span-test 
or the 
release board
 command. Using the 
release board
 command will restore all 
trunks or ports on the TN767E DS1 Interface circuit pack to the in-service state.