Lucent Technologies lucent ユーザーズマニュアル

ページ / 2392
DEFINITY Enterprise Communications Server  Release 6
Maintenance for R6vs/si  
555-230-127   
Issue 1
August 1997
Maintenance Object Repair Procedures 
Page 10-75
ANL-LINE (8-Port Analog Line), ANL-NE-L (8-Port Neon Analog Line) 
10
Loop Around and Conference Test (#47)
Each Analog Port consists of:
an NPE for port connectivity and gain, and conferencing functionality
a code that converts the digital signals of the TDM Bus to analog signals
a battery feed chip that provides power to the telephone set for signaling, 
dial pulsing, transmission, and balance.
This test is designed to check the on-board transmission capabilities of the NPE, 
the code, and the battery feed chip of the Analog Port. A Tone Detector and a 
Tone Generator talk and listen on the same pair of time slots as the Analog Port. 
The Analog Port is then instructed to go into loop around mode (see Figure 10-2). 
The test passes if the signal measured by the Tone Detector is within acceptable 
limits.
The Conference Circuit Test verifies that the NPE channel for the port being 
tested can correctly perform the conferencing function. As part of Test #47, the 
operation of the port conference circuits in the NPE for three and four parties is 
also tested. In addition, a test is run to measure noise. The NPE is instructed to 
listen to several different tones and conference the tones together. The resulting 
signal is then measured by a Tone Detector port. If the level of the tone is within a 
certain range, the test passes.
The noise test is performed by filtering out the tone, and then measuring inherent 
port noise.
NOTE:
This Loop Around Test is sensitive to the length of the loop, the equipment 
in the loop, or the equipment terminating the loop, such as off-premises 
stations. If this test is causing a false alarm, then disable the test by 
changing the Tests field to "no" using the 
change station
 command for this 
station.