Lucent Technologies lucent ユーザーズマニュアル

Issue 1

August 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-224

CAP-MEM (Memory Card Capacity) 

Notes:

a. Refer to 12V-PWR (12 Volt Power Supply) Maintenance documentation for 

a description of this test.

b. Refer to CARD-MEM (Memory Card) Maintenance documentation for a 

description of this test.

This test is a nondestructive test. The purpose of the test is to verify that the 
percentage of translation storage space used in the memory card is less than 
98%.

This test can be initiated through a system technician demanded 

 command, or it can be executed as part of a maintenance test sequence 

after the 

 operation.

1.

D = Destructive; ND = Nondestructive

12 Volt Power Supply Test (#701) (a)

X

X

ND

Memory Card Insertion Test (#695) (b)

X

X

ND

Memory Card Format and Read Test (#696) (b)

X

X

ND

Memory Card Match Test (#697) (b)

X

X

ND

Memory Card Write-Protected Test (#698) (b)

X

X

ND

Memory Card Directory Recovery Test (#699) (b)

X

X

ND

Memory Card Translation Data Integrity Test (#694) (b)

X

ND

Memory Card Erase/Write/Read Test (#693) (b)

X

ND

Memory Card Capacity Test (#1014)

X

ND