Texas Instruments LM3448 Evaluation Board LM3448-EDSNEV/NOPB LM3448-EDSNEV/NOPB 데이터 시트

SNOSB51C – SEPTEMBER 2011 – REVISED MAY 2013

V

CC

= 12V unless otherwise noted. Limits in standard type face are for T

J

= 25°C and those with boldface type apply over

the full Operating Temperature Range ( T

J

=

−

40°C to +125°C). Minimum and Maximum limits are specified through test,

design, or statistical correlation. Typical values represent the most likely parametric norm at T

J

= +25ºC and are provided for

reference purposes only.

R

BLDR

Bleeder resistance to GND

I

BLDR

= 10mA

230

Ω

I

VCC

Operating supply current

Non-switching

2.00

mA

V

CC-UVLO

Rising threshold

7.4

V

Falling threshold

6.4

Hysterisis

1

V

COFF

Time out threshold

1.276

V

R

COFF

Off timer sinking impedance

33

Ω

t

COFF

Restart timer

180

µs

V

ISNS

ISNS limit threshold

1.269

V

t

ISNS

Leading edge blanking time

125

ns

Current limit reset delay

180

µs

f

RAMP

Frequency

5.85

kHz

V

RAMP

Valley voltage

1.00

V

Peak voltage

3.00

D

RAMP

Maximum duty cycle

98.0

%

V

ANG_DET

Angle detect rising threshold

Observed on BLDR pin

7.21

V

V

ASNS

ASNS filter delay

4

µs

ASNS VMAX

3.96

V

I

ASNS

ASNS drive capability sink

V

ASNS

= 2V

-7.6

mA

ASNS drive capability source

V

ASNS

= 2V

4.3

I

DIM

DIM low sink current

V

DIM

= 1V

-2.80

DIM high source current

V

DIM

= 4V

4.00

V

DIM

DIM low voltage

PWM input voltage threshold

1.33

V

DIM high voltage

2.33

V

TSTH

TRI-STATE threshold voltage

Apply to FLTR1 pin

4.87

V

R

DIM

DIM comparator TRI-STATE impedance

M

Ω

V

FLTR2

FLTR2 open circuit voltage

750

mV

R

FLTR2

FLTR2 impedance

420

k

Ω

V

BVDS

SW to ISNS breakdown voltage

600

660

V

(1)

Absolute Maximum Ratings are limits beyond which damage to the component may occur. Operating Ratings are conditions under
which operation of the device is specified and do not imply ensured performance limits. For ensured performance limits and associated
test conditions, see the Electrical Characteristics table. All voltages are with respect to the potential at the GND pin unless otherwise
specified.

(2)

All limits specified at room temperature (standard typeface) and at temperature extremes (bold typeface). All room temperature limits are
100% production tested. All limits at temperature extremes are specified via correlation using standard Statistical Quality Control (SQC)
methods. All limits are used to calculate Average Outgoing Quality Level (AOQL).

(3)

Typical numbers are at 25°C and represent the most likely norm.

4

Copyright © 2011–2013, Texas Instruments Incorporated

Product Folder Links: