Texas Instruments Test System for BQ27000 BQ27200 Based Circuit Boards BQ27X00-TESTER BQ27X00-TESTER 데이터 시트

UDG−03042

A learning cycle can be disqualified by any of the following conditions:

1. Cold temperature: Temperature

≤

TCOMP[3:0] (

°

C) when the EDV1 threshold voltage is reached.

2. Light load: A capacity learning cycle is disqualified if average current is less than or equal to 2 times the

initial standby load when the EDV1 threshold voltage is reached.

3. Fast voltage drop: VOLT

≤

(EDV1 – 256 mV) before EDV1 is set.

4. Excessive charging: Cumulative Charge > 255 NAC counts (910 µVh) during a learning discharge cycle

(alternating discharge/charge/discharge before EDV1 is set).

5. Reset: VDQ is cleared on all resets.

6. Excessive self-discharge: NAC reduction from self-discharge estimate (0.195%) performed 64 times.

7. Self-discharge at termination of learning cycle. If self-discharge estimate causes NAC

≤

LMD/16, VDQ is

cleared.

NAC is adjusted by charge and discharge coulometric measurements except when battery full or empty
conditions are detected. NAC = LMD is forced when IMIN = 1 (full detection) unless Temperature

≤

TCOMP[3:0]

(

°

C). During a discharge with VDQ = 1, NAC is not allowed to drop below LMD/16 until EDV1 = 1. If EDV1 = 1

occurs when NAC > LMD/16, NAC = LMD/16 will be forced. NAC = 0 is forced if EDVF = 1.

The bqJUNIOR stores all calculated information in RAM, which is backed up by the voltage on the RBI input.
EEPROM registers store permanent user data. The memory map for bq27000/bq27200 is shown in

11