Texas Instruments BQ24765 Evaluation Module for SMBus Controlled Battery Charger with Integrated FETs BQ24765EVM BQ24765EVM 데이터 시트

SLUS999 – NOVEMBER 2009

over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)

(1) (2)

DCINP, DCINA, CSOP, CSON, CSSP, CSSN, VFB, ACOK

–0.3 to 30

PHASE

–1 to 30

EAI, EAO, FBO, VDDP, ACIN, VICM, ICOUT, ICREF, CE

–0.3 to 7

Voltage range

V

VDDSMB, SDA, SCL

–0.3 to 6

VREF

–0.3 to 3.6

BOOT (with respect to AGND and PGND)

–0.3 to 36

Maximum difference voltage: CSOP–CSON, CSSP–CSSN

–0.5 to 0.5

V

Junction temperature range

-40 to 155

°C

Storage temperature range

–55 to 155

°C

(1)

Stresses beyond those listed under absolute maximum ratings may cause permanent damage to the device. These are stress ratings
only, and functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under recommended operating
conditions is not implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.

(2)

All voltages are with respect to AGND and PGND if not specified. Currents are positive into, and negative out of the specified terminal.
Consult Packaging Section of the data book for thermal limitations and considerations of packages.

PHASE

–1

24

DCINP, DCINA, CSOP, CSON, CSSP, CSSN, VFB, ACOK

0

24

VDDP

0

6.5

Voltage range

VREF

3.3

V

VDDSMB, SDA, SCL

0

5.5

EAI, EAO, FBO, ACIN, VICM, ICOUT, ICREF, CE

0

5.5

BOOT (with respect to GND and PGND)

0

30

Maximum difference voltage: CSOP–CSON, CSSP–CSSN

–0.3

0.3

V

Junction temperature range

–40

125

°C

Storage temperature range

–55

150

°C

Copyright © 2009, Texas Instruments Incorporated

5

Product Folder Link(s) :