Texas Instruments CC2650DK 사용자 설명서

다운로드
페이지 1570
Interrupts and Events Registers
Table 4-13. EVTOMCUSEL Register Field Descriptions (continued)
Bit
Field
Type
Reset
Description
33h = Timer 0 event
34h = Timer 1 event
35h = BATMON temperature update event
36h = BATMON voltage update event
37h = Comparator B triggered. Asynchronous signal directly from the
AUX Comparator B as opposed to AUX_COMPB which is
synchronized in AUX
38h = Comparator B not triggered. Asynchronous signal directly from
**AUX ** Comparator B (inverted) as opposed to AUX_COMPB
which is synchronized in AUX
3Fh = No event, always low
15-14
RESERVED
R
X
Software should not rely on the value of a reserved. Writing any
other value than the reset value may result in undefined behavior.
13-8
AON_PROG1_EV
R/W
2Bh
Event selector for AON_PROG1 event. AON Event Source id#
selecting event routed to EVENT as AON_PROG1 event.
0h = Edge detect on PAD0
1h = Edge detect on PAD1
2h = Edge detect on PAD2
3h = Edge detect on PAD3
4h = Edge detect on PAD4
5h = Edge detect on PAD5
6h = Edge detect on PAD6
7h = Edge detect on PAD7
8h = Edge detect on PAD8
9h = Edge detect on PAD9
Ah = Edge detect on PAD10
Bh = Edge detect on PAD11
Ch = Edge detect on PAD12
Dh = Edge detect on PAD13
Eh = Edge detect on PAD14
Fh = Edge detect on PAD15
10h = Edge detect on PAD16
11h = Edge detect on PAD17
12h = Edge detect on PAD18
13h = Edge detect on PAD19
14h = Edge detect on PAD20
15h = Edge detect on PAD21
16h = Edge detect on PAD22
17h = Edge detect on PAD23
18h = Edge detect on PAD24
19h = Edge detect on PAD25
1Ah = Edge detect on PAD26
1Bh = Edge detect on PAD27
1Ch = Edge detect on PAD28
1Dh = Edge detect on PAD29
1Eh = Edge detect on PAD30
1Fh = Edge detect on PAD31
20h = Edge detect on any PAD
21h = AON_SPISLAVE byte received / transmitted
22h = AON_SPISLAVE Chip Select Pin asserted
23h = RTC channel 0 event
24h = RTC channel 1 event
25h = RTC channel 2 event
26h = RTC channel 0 - delayed event
27h = RTC channel 1 - delayed event
28h = RTC channel 2 - delayed event
262
Interrupts and Events
SWCU117A – February 2015 – Revised March 2015
Copyright © 2015, Texas Instruments Incorporated