Texas Instruments CC2650DK 사용자 설명서

다운로드
페이지 1570
Class 4
1149.1
Compliance
Class 0
Mscan,
Oscan 0-7
Jscan 2
BDX
CDX
Pwr Ctl
JScan3
MultiDrop
ExtCmds
Delays
SScan 0-3
Jscan 0,1
Class 1
Class 2
Class 3
Class 5
cJTAG
5.2
cJTAG
This module implements IEEE 1149.7 compliant compact JTAG (cJTAG) adapter, which runs a 2-pin
communication protocol on top of a IEEE 1149.1 JTAG test access port (TAP). The 2-pin JTAG mode
using only TCK and TMS I/O pads is the default configuration after power up. The cJTAG configuration in
CC26xx implements a subset of class 4 feature scan modes. Class 4 inherits features from classes 0, 1,
2, and 3 (except the features mentioned in
.)
shows conceptual diagram of the cJTAG
module.
Figure 5-3. cJTAG Conceptual Diagram
Class 0 – Strict compliance to IEEE 1149.1 specification with internal TAP selection
Class 1 – Adds cJTAG command protocol, some optional discrete commands
Class 2 – Adds serial select capability
Class 3 – Adds JTAG star configuration, controller IDs and scan selection directives
Class 4 – Adds advanced scan protocols
lists the features in IEEE 1149.7 that are supported in CC26xx. The cJTAG module in the
CC26xx device supports 12 scan formats. The scan formats use a variety of compression protocols
ranging from 1 to 4 clocks per bit to serialize each packet.
Table 5-2. IEEE 1149.7 Feature Subset
Device Support Through
IEEE 1149.7 Feature
Comment
cJTAG
Class 4 TAP
Yes
Supports 2-pin operation
Configuration
Data and custom channels for
Class 5 TAP
No
background data transfer
FRST
No
Functional reset
TRST
No
Test reset
Optional components
RDBK capability
No
Readback of register data
Aux pin functions
Yes
Reuse of TDI and TDO pins
TCKWID
No
Programmable TCK width
Power down logic capability for
Power control
Power down logic
No
cJTAG module
392
JTAG Interface
SWCU117A – February 2015 – Revised March 2015
Copyright © 2015, Texas Instruments Incorporated