Texas Instruments CC2650DK 사용자 설명서

다운로드
페이지 1570
Vio
Pin (DIOx)
Pullup enable
Output enable (OE)
Output
Pulldown enable
Input enable (IE)
Input
I/O Pin
Figure 11-2. Generic I/O pin (Simplified)
11.10.2 Pin Configuration
The IOC lets software configure the pins based on the application requirements. The software can
configure different characteristic settings for any or all of the I/O pins. All of the following features, except
for output driver (output enable set in the [GPIO:DOE31_0] register), are controlled in the [IOC:IOCFGn]
registers:
Drive Strength ([IOC:IOCFGn.IOSTR])
Configures the drive strength and maximum current of an I/O pin. All I/O pins support 2 mA and 4 mA,
while five pins support up to 8 mA. By setting [IOC:IOCFGn.IOSTR] to 0x0, the drive strength is
automatically updated based upon inputs from the battery monitor, BATMON, to maintain the set drive
strength level at different battery voltages.
Pull ([IOC:IOCFGn.PULL_CTL])
Configures a weak pull on an I/O pin. The following can be set: pull-up, pull-down, or no pull. See the
data sheet for specific pullup and pulldown resistance.
Slew Control ([IOC:IOCFGn.SLEW_RED])
Sets high or low slew rate on an I/O pin.
Hysteresis ([IOC:IOCFGn.HYST_EN])
Enables or disables input hysteresis on an I/O pin.
Open-Source or Open-Drain Configuration ([IOC:IOCFGn.IOMODE])
Configures the pin as normal, open source, or open drain; all of these can be set to either inverted or
normal (noninverted).
Interrupt and Edge Detection ([IOC:IOCFGn.EDGE_IRQ_EN] and [IOC:IOCFGn.EDGE_DET])
Enables interrupt triggered by edge detection on I/O pin. Different edge detection modes are
supported, and the possible modes are rising edge, falling edge, trigger on both rising and falling, or no
edge detection.
Input Driver [IOC:IOCFGn.IE]
Enables or disables the I/O input driver.
Output Driver (Depends on specific peripheral mapped to pin)
Enables or disables the I/O output driver.
874
I/O Control
SWCU117A – February 2015 – Revised March 2015
Copyright © 2015, Texas Instruments Incorporated