Texas Instruments bq20z655EVM and bq34z651EVM SBS 1.1 Impedance Track Technology Enabled EVM BQ34Z651EVM BQ34Z651EVM 데이터 시트

LED4

Output/open drain: LED 4 current sink. LCD segment 4

LED5

Output/open drain: LED 5 current sink. LCD segment 5

PACK

–

Pack negative terminal

PACK+

Pack positive terminal

SMBC

Serial communication port clock

SMBD

Serial communication data port

SYS PRES

System present pin (if low, system is present)

VSS

Pack negative terminal

This section contains information for modifying and choosing a precharge mode for bq20z655/bq29412
and bq34z651/bq29412 implementation.

The schematic follows the bill of materials in this user's guide (

To charge, the charge FET (CHG-FET) must be turned on to create a current path. When the V

(BAT)

is 0 V

and CHG-FET = ON, the V

(PACK)

is as low as the battery voltage. In this case, the supply voltage for the

device is too low to operate. This function has three possible configurations, and the IC can be easily
configured according to the application needs. The three modes are 0-V Charge FET mode, Common
FET mode, and Precharge FET mode.

1. 0-V Charge FET mode

—

Dedicates a precharge current path using an additional FET (ZVCHG-FET) to

sustain the PACK+ voltage level.

2. Common FET mode

—

Does not use a dedicated precharge FET. The charge FET (CHG-FET) is set to

ON state as default.

3. Precharge FET mode

—

Dedicates a precharge current path using an additional open-drain (OD) pin

drive FET (PCHG-FET) to sustain the PACK+ voltage level.

To use a particular mode of charging with the EVM, add or remove some elements shown in

, and

use the given settings of DF.Configuration, ZVCHG1, 0.

1. 0-V Chg (default)

R21, R28

Q3

0

0

2. Common FET

R24

Q2

0

1

3. Precharge

R23, R28

Q3

1

0

For more details about pre-charge operation and mode choices, see the bq20z655 datasheet (

and the bq34z651 datasheet (

).

To prevent the loss of board functionality during the fuse-blowing test, the actual chemical fuse is not
provided in the circuit. FET Q1 drives TP2 low if a fuse-blow condition occurs; so, monitoring TP2 can be
used to test this condition. Fuse placement on the application board is shown in the bq20z655 and
bq34z651 datasheet reference-board schematics.

This section contains the printed-circuit board (PCB) layout, bill of materials, and assembly drawings for
the bq20z655/bq29412 and bq34z651/bq29412 circuit module.

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SLUU697

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November 2011

Copyright

©

2011, Texas Instruments Incorporated