Texas Instruments BQ3055EVM Evaluation Module BQ3055EVM BQ3055EVM 데이터 시트

1N

–

ve connection of first (bottom) cell

1P

+ve connection of first (bottom) cell

2P

+ve connection of second cell

3P

+ve connection of third cell

4P

+ve connection of fourth (top) cell

SMBC

Serial communication port clock

SMBD

Serial communication data port

VSS

Pack negative terminal

PACK

–

Pack negative terminal

SYS PRES

System present pin (if low, system is present)

PACK+

Pack positive terminal

This section contains information on the schematic for the bq3055/bq29440 implementation.

The schematic follows the bill of materials in this user's guide.

The bq3055 contains an internal precharge FET; however, the default firmware configuration uses the
Charge FET for precharge. To evaluate the internal precharge FET, change the least two significant bits in
DF:Configuration:Charging Configuration to be 0,0. See the bq3055 Technical Reference Manual
(

) for additional information.

To prevent the loss of board functionality during the fuse-blowing test, the actual chemical fuse is not
provided in the circuit. FET Q1 drives TP8 low if a fuse-blow condition occurs; monitoring TP8 can be
used to test this condition.

This section contains the board layout, bill of materials, and assembly drawings for the bq3055/bq29440
circuit module.

This section shows the dimensions, PCB layers, and assembly drawing for the bq3055 module.

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SLUU824

–

December 2011

Copyright

©

2011, Texas Instruments Incorporated