Texas Instruments IC MCU 16B MSP430F2410TPM LQFP-64 TID MSP430F2410TPM 데이터 시트

SLAS547I – JUNE 2007 – REVISED DECEMBER 2012

P6.3/A3

2

I/O

General-purpose digital I/O / analog input A3 - 12-bit ADC

P6.4/A4

3

I/O

General-purpose digital I/O / analog input A4 - 12-bit ADC

P6.5/A5

4

I/O

General-purpose digital I/O / analog input A5 - 12-bit ADC

P6.6/A6

5

I/O

General-purpose digital I/O / analog input A6 - 12-bit ADC

P6.7/A7/SVSIN

6

I/O

General-purpose digital I/O / analog input A7 - 12-bit ADC/SVS input

XT2OUT

52

O

Output terminal of crystal oscillator XT2

XT2IN

53

I

Input port for crystal oscillator XT2

RST/NMI

58

I

Reset input, nonmaskable interrupt input, or bootstrap loader start (in flash devices)

TCK

57

I

Test clock (JTAG). TCK is the clock input port for device programming test and bootstrap loader start.

TDI/TCLK

55

I

Test data input or test clock input. The device protection fuse is connected to TDI/TCLK.

TDO/TDI

54

I/O

Test data output. TDO/TDI data output or programming data input terminal.

TMS

56

I

Test mode select. TMS is used as an input port for device programming and test.

V

eREF+

10

I

Input for an external reference voltage

V

REF+

7

O

Output of positive terminal of the reference voltage in the ADC12

Negative terminal for the reference voltage for both sources, the internal reference voltage, or an external

V

REF-

/V

eREF-

11

I

applied reference voltage

XIN

8

I

Input for crystal oscillator XT1. Standard or watch crystals can be connected.

XOUT

9

O

Output for crystal oscillator XT1. Standard or watch crystals can be connected.

QFN Pad

NA

NA

QFN package pad connection to DV

SS

recommended

10

Copyright © 2007–2012, Texas Instruments Incorporated