Texas Instruments BQ30z554EVM Evaluation Module BQ30Z554EVM BQ30Z554EVM 데이터 시트

1N

–ve connection of first (bottom) cell

1P

+ve connection of first (bottom) cell

2P

+ve connection of second cell

3P

+ve connection of third cell

4P

+ve connection of fourth (top) cell

SMBC

Serial communication port clock

SMBD

Serial communication data port

VSS

Pack negative terminal

PACK–

Pack negative terminal

SYS PRES

System present pin (if low, system is present)

PACK+

Pack positive terminal

This section contains information on configuration and fuse-blowing tests for the bq30z554/bq29412
implementation.

The bq30z554 contains an internal precharge FET; however, the default firmware configuration uses the
Charge FET for precharge. To evaluate the internal precharge FET, change the least two significant bits in
DF:Configuration:Charging Configuration to be 0,0. See the bq30z5x-R1 Technical Reference Manual
(

) for additional information.

To prevent the loss of board functionality during the fuse-blowing test, the actual chemical fuse is not
provided in the circuit. FET Q1 drives TP8 low if a fuse-blow condition occurs; monitoring TP8 can be
used to test this condition.

Pull up TP8 to test the fuse circuit.

This section contains the board layout, assembly drawings, schematic, and bill of materials for the
bq30z554/bq29412 circuit module.

This section shows the dimensions, PCB layers, and assembly drawing for the bq30z554 module.

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SLUUA36 – November 2012

Copyright © 2012, Texas Instruments Incorporated