Lucent Technologies R5SI Manual Do Utilizador

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-711

EXT-DEV ADMIN? N (External Device Alarm) 

b. Refer to EMG-XFER (Emergency Transfer) section for a description of this 

test.

c. Refer to RING-GEN (Analog Ring Generator) section for a description of 

this test.

The External Device Alarm Test requests the state of the External Device Alarm 
from the Maintenance circuit pack and reports the results. The test has no effect 
on the external device itself.

1000

ABORT

System resources required to run this test are not 
available.

1. Retry the command at 1 minute intervals a maximum 

of 5 time.

2. If the test continues to abort, escalate the problem.

2000

ABORT

Response to the test request was not received within the 
allowable time period.

1. Retry the command at 1 minute intervals a maximum 

of 5 time.

2. If the test continues to ABORT with error code 2000, 

check for system powering problems with the A 
carrier (PPN or EPN). Look for and resolve all 
AC-POWER and CARR-POW alarms in a multicarrier 
cabinet or DC-POWER alarms in a single carrier 
cabinet. Then, repeat the test.

3. If the test continues to ABORT with a 2000 error 

code, check for and resolve all SYSAM errors in a 
PPN or MAINT (EPN Maintenance circuit pack) 
errors in an EPN. Then, repeat the test.

4. If the test continues to ABORT with a 2000 error 

code, then escalate the problem.

2029 
2319 
2320 
2500

ABORT

Internal System Error

1. Retry the command at 1 minute intervals a maximum 

of 5 times.

2. If the test continues to abort, escalate the problem.