Lucent Technologies R5SI Manual Do Utilizador

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-1229

SHDW-CIR (Common Shadow Circuit) 

Notes:

a. Refer to DUPINT (Duplication Interface Circuit Pack) Maintenance 

documentation for description of this test.

b. Refer to SPE-SELEC (SPE Select Switch) Maintenance documentation for 

description of this test.

This test allows maintenance to loop data through the common shadow circuit 
and examine the results. The test is designed to test the shadow data and 
shadow address portions of the common shadow circuit. The test is done entirely 
on the Duplication Interface circuit pack.

The Common Shadow Circuit is put into Maintenance Mode before the test is run. 
Maintenance software writes data into an address in the maintenance address 
space. This data is routed through the common shadow circuit and put into the 
FIFO bank of the common shadow circuit. Maintenance reads the contents of the 
FIFO bank and compares them with the value written to the maintenance address 
space. The test is repeated with another address in the maintenance address 
space.

This test does not disable the common shadow circuit and can be run with no 
disruption in service. The test must be executed from control carrier B to test the 

1.

D = Destructive; ND = Nondestructive

Duplication Interface Circuit Pack Manager I Loop Back 
Test (#274) (a)

X

X

ND

Inter-Duplication Interface Circuit Pack Loop Back Test 
(#280) (a)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack Background Test 
Query Test (#271)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack Invalid Message 
Query Test (#272) (a)

X

X

ND

Common Shadow Circuit M-BUS Time-Out Query Test 
(#285)

X

ND

Common Shadow Circuit Loop Back Test (#283)

X

X

ND

Common Shadow Circuit Address Decoder Test (#284)

X

X

ND

SPE Select Switch Query Test (#278) (b)

X

X

ND